[发明专利]一种用于密绕型超导线圈降温过程中线圈温度测量的方法

权利要求书

1.一种用于密绕型超导线圈降温过程中线圈温度测量的方法，其特征在于：该方法包括下述步骤：

(1)理论计算超导线圈整体电阻与温度直接的关系，得出R-T关系式；

(2)线圈降温过程中每隔30分钟通过测量装置对线圈电阻进行测量一次；

(3)将线圈的测量电阻与R-T关系式进行对比，计算线圈的实时温度；

(4)将线圈的整体温度反馈给低温系统，从而调节降温方案；

(5)实时拟合线圈温度和电阻的关系式，观测线圈降温曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤(2)中，所述测量装置包括通过超导线绕制而成、且位于低温环境区域内的超导线圈；

超导线两端头处引出分别与电流引线的低温超导段进行焊接，电流引线位于低温环境区域内；

两个电流引线再通过导线与供电电源正负连接；

超导线两端头处分别引出两根测量线，四根测量线分别接入测电阻设备，测电阻设备位于低温环境区域外。