[发明专利]一种基于纳米筛掩模的纳米光电器件制备方法有效
申请号: | 201710471122.2 | 申请日: | 2017-06-20 |
公开(公告)号: | CN107180897B | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 徐智谋;李泽平;江睿;屈小鹏 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/20 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 杨采良 |
地址: | 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明主要属于纳米光电器件制备领域,具体涉及一种基于纳米筛掩模的纳米光电器件制备方法。通过人工生成的纳米孔阵列膜(支撑层)制备获得纳米筛掩模;将制备好的纳米筛掩模转移到光电器件上得到样片;采用沉积或刻蚀技术对样片进行沉积或刻蚀;利用物理或者化学方法去除纳米筛掩模,在光电器件上得到纳米阵列结构。本发明通过人工低成本获得的纳米筛做掩模,采用纳米加工技术,制备大面积的均匀纳米孔、纳米点、纳米柱和纳米圆台阵列,从而获得纳米结构光电器件。该技术的发现与突破,将使得大面积、低成本制备半导体表面有序纳米结构阵列成为可能,对推动纳米结构半导体器件的应用意义重大。 | ||
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【主权项】:
1.一种基于纳米筛掩模的纳米光电器件制备方法,其特征在于,所述方法:所述纳米筛掩模包括支撑层和掩模层;将纳米筛掩模转移到光电器件上,掩模层与光电器件接触,去除支撑层得到样片;采用沉积或刻蚀技术对样片进行沉积或刻蚀;利用物理或者化学方法去除掩模层,在光电器件上得到纳米阵列结构;所述支撑层为人工生成纳米孔阵列膜,用于提高纳米筛掩模的支撑性,便于实现在大面积器件上制备纳米阵列;所述掩模层通过在支撑层表面上采用表面物理或化学沉积方法得到,所述掩模层的结构与支撑层的表面结构相同。
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