[发明专利]一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法及装置有效
| 申请号： | 201710438956.3 | 申请日： | 2017-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN107271046B | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | 何斌;霍丽君;周达标 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法及装置。本发明的基于局部统计相关性的非均匀性校正方法包括：连续采集F帧图像；标定所述采集的F帧图像；递推计算F帧标定后图像的均值得到均值图像；对均值图像进行均值滤波得到滤波后图像；将所述滤波后图像与均值图像作差，得到校正系数矩阵。本发明还公开了一种基于局部统计相关性的非均匀性校正装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 局部 统计 相关性 均匀 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法，其特征在于，包括以下步骤：连续采集F帧图像，所述连续采集F帧图像是在保持被拍摄场景和焦平面阵列存在相对运动时采集；标定所述采集的F帧图像；递推计算F帧标定后图像的均值得到均值图像；对均值图像进行均值滤波得到滤波后图像；将所述滤波后图像与均值图像作差，得到校正系数矩阵。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710438956.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
