[发明专利]一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法及装置有效
申请号: | 201710438956.3 | 申请日: | 2017-06-12 |
公开(公告)号: | CN107271046B | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 何斌;霍丽君;周达标 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 赵勍毅 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 局部 统计 相关性 均匀 校正 方法 装置 | ||
1.一种基于局部统计相关性的非均匀性校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
连续采集F帧图像,所述连续采集F帧图像是在保持被拍摄场景和焦平面阵列存在相对运动时采集;
标定所述采集的F帧图像;
递推计算F帧标定后图像的均值得到均值图像;
对均值图像进行均值滤波得到滤波后图像;
将所述滤波后图像与均值图像作差,得到校正系数矩阵。
2.如权利要求1所述的基于局部统计相关性的非均匀性校正方法,其特征在于,所述步骤:标定所述采集的F帧图像,具体的计算公式为:
Jf(i,j)=g(i,j)If(i,j)+o(i,j)
式中,If(i,j)代表第f帧图像If中第i行第j列对应的像素点的灰度值,Jf(i,j)代表校正后图像的灰度值,g(i,j)和o(i,j)是校正系数。
3.如权利要求1所述的基于局部统计相关性的非均匀性校正方法,其特征在于,所述步骤:递推计算F帧标定后图像的均值得到均值图像,具体的计算公式为:
其中,代表累加F帧图像Jf后得到的均值。
4.如权利要求1所述的基于局部统计相关性的非均匀性校正方法,其特征在于,所述步骤:对均值图像进行均值滤波得到滤波后图像,具体的计算公式为:
其中,M是均值滤波后的图像,H是均值卷积模板。
5.一种基于局部统计相关性的非均匀性校正装置,其特征在于,包括:
采集单元,所述采集单元用于连续采集F帧图像,所述采集单元是在保持被拍摄场景和焦平面阵列存在相对运动时连续采集F帧图像;
标定单元,所述标定单元用于将所述采集单元所述采集的F帧图像进行标定;
计算单元,所述计算单元将所述标定单元标定后的F帧标定后图像的均值进行递推计算得到均值图像;
滤波单元,所述滤波单元对所述计算单元得到的均值图像进行均值滤波得到滤波后图像;
校正单元,所述校正单元将所述滤波单元的滤波后图像与计算单元的均值图像作差,得到校正系数矩阵。
6.如权利要求5所述的基于局部统计相关性的非均匀性校正装置,其特征在于,所述标定单元将所述采集单元所述采集的F帧图像进行标定的具体的计算公式为:
Jf(i,j)=g(i,j)If(i,j)+o(i,j)
式中,If(i,j)代表第f帧图像If中第i行第j列对应的像素点的灰度值,Jf(i,j)代表校正后图像的灰度值,g(i,j)和o(i,j)是校正系数。
7.如权利要求5所述的基于局部统计相关性的非均匀性校正装置,其特征在于,所述计算单元将所述标定单元标定后的F帧标定后图像的均值进行递推计算得到均值图像的具体的计算公式为:
其中,代表累加F帧图像Jf后得到的均值。
8.如权利要求5所述的基于局部统计相关性的非均匀性校正装置,其特征在于,所述校正单元将所述滤波单元的滤波后图像与计算单元的均值图像作差,得到校正系数矩阵具体的计算公式为:
其中,M是均值滤波后的图像,H是均值卷积模板。
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