[发明专利]一种数控机床的动态误差检验方法及装置有效
申请号: | 201710438895.0 | 申请日: | 2017-06-12 |
公开(公告)号: | CN107085409B | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 陈吉红;周会成;李雷 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G05B19/404 | 分类号: | G05B19/404 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 周磊;曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种数控机床的动态误差检验方法,包括:数据采集步骤,从数控机床获取与所述数控机床的刀位点的实际位置相关的第一数据和与测头的探针的偏移量相关的第二数据;数据处理步骤,对所述第一数据和所述第二数据进行处理,将所述第一数据和所述第二数据还原成工件坐标系下的理论刀位轨迹,并基于所述理论刀位轨迹和所述第二数据获得实际刀位轨迹;分析步骤,通过比较所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹,得到所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹之间的误差,获得所述数控机床的动态误差。本发明还公开了一种数控机床的动态误差检验装置、用于动态误差检验的数控机床、测头和存储介质。 | ||
搜索关键词: | 一种 数控机床 动态 误差 检验 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种数控机床的动态误差检验方法,其特征在于,包括:数据采集步骤,从数控机床获取与该数控机床的刀位点的实际位置相关的第一数据和与测头的探针的偏移量相关的第二数据;在此过程中,首先将所述探针贴合于“S”件的直纹加工面,然后以与数控加工此“S”件相同的进给速度以及与数控加工此“S”件时其中一刀具轨迹相同的运动轨迹,沿着此“S”件的外轮廓扫描测量一周圈,与此同时,同步采集与所述第一数据和第二数据;其中,所述测头为接触式三维扫描测头,所述“S”件由一个呈“S”形状的直纹加工面和一个矩形基座组合而成;数据处理步骤,对所述第一数据和所述第二数据进行处理,将所述第一数据和所述第二数据还原成工件坐标系下的理论刀位轨迹,并基于所述理论刀位轨迹和所述第二数据来获得实际刀位轨迹;分析步骤,通过比较所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹,得到所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹之间的误差,获得所述数控机床的动态误差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710438895.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种背夹式激光扫码设备
- 下一篇:一种手持式扫描枪固定架