[发明专利]一种数控机床的动态误差检验方法及装置有效
申请号: | 201710438895.0 | 申请日: | 2017-06-12 |
公开(公告)号: | CN107085409B | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 陈吉红;周会成;李雷 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G05B19/404 | 分类号: | G05B19/404 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 周磊;曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数控机床 动态 误差 检验 方法 装置 | ||
1.一种数控机床的动态误差检验方法,其特征在于,包括:
数据采集步骤,从数控机床获取与该数控机床的刀位点的实际位置相关的第一数据和与测头的探针的偏移量相关的第二数据;在此过程中,首先将所述探针贴合于“S”件的直纹加工面,然后以与数控加工此“S”件相同的进给速度以及与数控加工此“S”件时其中一刀具轨迹相同的运动轨迹,沿着此“S”件的外轮廓扫描测量一周圈,与此同时,同步采集与所述第一数据和第二数据;其中,所述测头为接触式三维扫描测头,所述“S”件由一个呈“S”形状的直纹加工面和一个矩形基座组合而成;
数据处理步骤,对所述第一数据和所述第二数据进行处理,将所述第一数据和所述第二数据还原成工件坐标系下的理论刀位轨迹,并基于所述理论刀位轨迹和所述第二数据来获得实际刀位轨迹;
分析步骤,通过比较所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹,得到所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹之间的误差,获得所述数控机床的动态误差。
2.根据权利要求1所述的动态误差检验方法,其特征在于,
在对所述“S”件的外轮廓进行扫描测量时,当出现所述“S”件的直纹加工面上未扫描到的部位时,则用所述探针对该部位进行局部扫描测量,或者用所述探针触碰该部位进行一次检验测量。
3.根据权利要求2所述的动态误差检验方法,其特征在于,在对所述“S”件的外轮廓进行扫描测量时,当发现扫描测量过的部位已经不满足数控机床的动态精度的要求时,则终止对其它未扫描部位的进一步检验测量。
4.根据权利要求1~3任意一项所述的动态误差检验方法,其特征在于,所述实际刀位轨迹通过将所述理论刀位轨迹加上所述探针的偏移量数据而获得。
5.根据权利要求1~3任意一项所述的动态误差检验方法,其特征在于,所述第一数据为在数控机床坐标系下的与所述数控机床的刀位点的实际位置相关的数据;所述第二数据为在测头坐标系下的与所述探针的偏移量相关的数据。
6.一种数控机床的动态误差检验装置,其用于执行权利要求1~5任意一项所述的动态误差检验方法,其特征在于,包括:
显示器;
处理器,其用于进行以下处理:
从数控机床获取与该数控机床的刀位点的实际位置相关的上述第一数据以及与所述探针的偏移量相关的上述第二数据;
对所述第一数据和所述第二数据进行处理,将所述第一数据和所述第二数据还原成工件坐标系下的理论刀位轨迹,并基于所述理论刀位轨迹和所述第二数据获得实际刀位轨迹;
通过比较所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹,得到所述理论刀位轨迹和所述实际刀位轨迹之间的误差,获得所述数控机床的动态误差。
7.一种计算机存储介质,其特征在于,其用于存储使至少一个处理器执行如权利要求1~5任意一项所述的动态误差检验方法的程序。
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