[发明专利]高速ADC芯片的自动测试平台及测试方法在审
| 申请号： | 201710433918.9 | 申请日： | 2017-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN107290646A | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 王潜 | 申请（专利权）人： | 苏州迅芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 215028 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种高速ADC芯片的自动测试平台及测试方法，包括ADC子板、测试母板、FPGA核心板、上位机和测试设备；ADC子板包含放置被测ADC芯片的装置、连接ADC芯片的装置的ADC芯片基本工作电路和引出的芯片接口；基本工作电路保证被测ADC芯片正常工作；引出的芯片接口将被测ADC芯片需要测量的接口引出来和测试母板通过高速接口相连；测试母板连接ADC子板和FPGA核心板；FPGA核心板连接上位机，用于完成程序控制和数据处理的任务；上位机与FPGA核心板通信，用于控制测试流程；测试设备包括信号源和电源，提供整个自动测试平台所需要的信号和供电。本发明能够快速测试高速ADC各项性能参数。 | ||
| 搜索关键词： | 高速 adc 芯片 自动 测试 平台 方法 | ||
【主权项】：
高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，包括ADC子板、测试母板、FPGA核心板、上位机和测试设备；ADC子板包含放置被测ADC芯片的装置、连接ADC芯片的装置的ADC芯片基本工作电路和引出的芯片接口；基本工作电路保证被测ADC芯片正常工作；引出的芯片接口将被测ADC芯片需要测量的接口引出来和测试母板通过高速接口相连；测试母板连接ADC子板和FPGA核心板；FPGA核心板连接上位机，用于完成程序控制和数据处理的任务；上位机与FPGA核心板通信，用于控制测试流程；测试设备包括信号源和电源，提供整个自动测试平台所需要的信号和供电。
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