[发明专利]高速ADC芯片的自动测试平台及测试方法

权利要求书

1.高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，包括ADC子板、测试母板、FPGA核心板、上位机和测试设备；

ADC子板包含放置被测ADC芯片的装置、连接ADC芯片的装置的ADC芯片基本工作电路和引出的芯片接口；基本工作电路保证被测ADC芯片正常工作；引出的芯片接口将被测ADC芯片需要测量的接口引出来和测试母板通过高速接口相连；

测试母板连接ADC子板和FPGA核心板；

FPGA核心板连接上位机，用于完成程序控制和数据处理的任务；

上位机与FPGA核心板通信，用于控制测试流程；

测试设备包括信号源和电源，提供整个自动测试平台所需要的信号和供电。

2.根据权利要求1所述的高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，测试母板上的测试电路分为输入电路和输出电路；输入电路：用于输入两种激励信号，一种是频率幅值可调的稳定正弦波，一种是高精度稳定电平的输入直流；输出电路：用于测量被测ADC芯片输出端口的静态电平特性和时序特征精度。

3.根据权利要求1所述的高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，ADC子板和测试母板为分体结构，并通过高速接口连接；或者ADC子板与测试母板为整体结构，设置于同一电路板上。

4.根据权利要求1所述的高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，FPGA核心板的程序控制为：一是接收上位机命令，完成整个测试流程，二是控制测试母板上电路芯片完成相应功能；数据处理：FPGA核心板接收被测ADC芯片数据和测试母板电路芯片数据，运算算法对采集数据处理后将数据发给上位机。

5.根据权利要求2所述的高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，测试母板输入电路包括外部输入信号电路、DAC电路和射频开关；测试母板的输出电路包括ADC电路、开关阵列和FMC接口模块；

外部输入信号电路接收外部信号源仪器设备输入的单端信号，转成差分信号；外部输入信号电路输出的信号和DAC芯片输出的信号，通过二选一射频开关切换作为被测ADC芯片的信号输入；

连接上位机的外部信号源设备通过高频SMA接口连接射频开关；

FMC接口模块连接DAC芯片、射频开关、ADC电路和开关阵列；

DAC芯片输出覆盖被测ADC芯片满量程的高精度稳定电平，外部信号源设备输出的信号和DAC芯片输出信号通过二选一射频开关切换作为被测ADC芯片的信号输入。

6.根据权利要求5所述的高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，FPGA核心板与FMC接口模块连接；通过FMC模块，FPGA采用SPI通讯方式分别控制ADC电路、DAC电路和被测ADC芯片，通过使能信号组控制射频开关和开关阵列，通过串口通讯方式和上位机通信；通过FMC接口模块，FPGA核心板获取上述ADC电路和被测ADC芯片的采集数据，应用相应算法，得出所测相应参数，保证被测芯片端口的静态电平特性和时序特征精度。

7.根据权利要求6所述的高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，上位机通过控制FPGA核心板、控制信号源和电源设备从而控制整个参数获取流程；具体的，上位机发送预定协议指令和接收FPGA核心板回令来控制FPGA核心板；上位机接收FPGA核心板发送的所有预定参数数据，分析并显示测试结果。

8.根据权利要求5所述的高速ADC芯片的自动测试平台，其特征在于，DAC电路选取高精度DAC芯片，根据芯片测试要求确定输出范围和输出精度；ADC电路选取高精度多通道ADC芯片，根据芯片测试要求确定输入量程和采样精度。