[发明专利]一种调试微波器件的方法和设备有效
| 申请号： | 201710414164.2 | 申请日： | 2017-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN107132471B | 公开（公告）日： | 2020-02-28 |
| 发明（设计）人： | 陈超;张少林;孙昌盛;陈嘉达 | 申请（专利权）人： | 深圳市威富通讯技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01P11/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王术兰 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提出了一种调试微波器件的方法和设备，其中该方法包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。以此实现了一种自动化调试的方法，提高了调试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调试 微波 器件 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种调试微波器件的方法，其特征在于，包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。
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