[发明专利]一种调试微波器件的方法和设备

权利要求书

1.一种调试微波器件的方法，其特征在于，包括：

确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；

选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；

选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述“确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域”包括：

通过网络分析仪器对待调试微波器件进行测试，以获取待调试微波器的性能曲线；

根据需求信息确定对应待调试微波器的标准性能曲线；其中不同的需求信息对应不同的标准性能曲线；

基于所获取的标准性能曲线确定性能曲线的通带区域。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述“选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内”包括：

选取性能曲线中待调试的频段区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试之前各取样点与此次调试之后各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第一标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第二标识；

根据各取样点的第一标识与第二标识的移动方向确定谐振点的移动方向；

选取移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，直到谐振点全部处于通带区域内。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述“选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试”包括：

针对通带区域进行取点，得到多个取样点；

针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试后各取样点与预先获取的标准性能曲线中相同的各取样点的数值的差值；

针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第三标识；

若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第四标识；

通过选取第三标识的数量逐渐变多的调试方式进行调试，直到所有取样点对应的都是第三标识以完成对待调试微波器件的调试。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，待调试微波器件的调试是基于调谐杆来进行的，该方法还包括：

记录多个待调试微波器件的性能曲线中谐振点全部处于通带区域时对应的各调谐杆的调节量；

基于所记录的调节量确定各调谐杆的调节均值；

基于所述调节均值对下一个待调试微波器件进行调节，以使得该待调试微波器的性能曲线中谐振点全部处于通带区域内。

6.一种调试微波器件的设备，其特征在于，包括：确定模块、第一调试模块和第二调试模块，所述确定模块和所述第二调试模块均与所述第一调试模块连接；

所述确定模块用于确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；

所述第一调试模块用于选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；

所述第二调试模块用于选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。

7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述确定模块用于：

通过网络分析仪器对待调试微波器件进行测试，以获取待调试微波器的性能曲线；

根据需求信息确定对应待调试微波器的标准性能曲线；其中不同的需求信息对应不同的标准性能曲线；

基于所获取的标准性能曲线确定性能曲线的通带区域。