[发明专利]消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法有效
申请号: | 201710406063.0 | 申请日: | 2017-06-01 |
公开(公告)号: | CN107329125B | 公开(公告)日: | 2020-09-22 |
发明(设计)人: | 董杰;杜艳;梁宇宏;李洁 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01S7/02 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本发明提出的一种消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法,旨在提供一种能够有效消除短时突发干扰的影响、确保幅相测试数据准确可靠,提高相控阵天线在短时突发干扰环境下的校准成功率的方法。本发明通过下述技术方案予以实现:校准接收机对被测天线返回的信号进行下变频,将生成的中频信号送入校准信号处理单元,根据采样和数字正交解调得到的同相分量和正交分量采样值,计算出被测信号的幅度值和信噪比SNR,将信噪比SNR与其中预先设定的判决门限SNR |
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搜索关键词: | 消除 突发 干扰 信号 闭环 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法,其特征在于包括以下步骤:构建包括综合控制分机、相控阵天线阵面和校准测试设备的有源相控阵天线校准系统,通过综合控制分机通信接口向相控阵天线阵面和校准测试设备,发送包括校准频点和发射/接收校准状态的自闭环校准命令和校准状态序号k的校准测试命令,天线阵面和校准测试设备根据自闭环校准命令设置自身的校准状态,天线阵面波控器根据校准状态序号k配置天线各通道移相状态,校准测试设备通过发射端口输出校准发射机产生的校准测试信号,校准测试信号经被测天线波束形成网络后返回校准测试设备的校准接收机;校准接收机对被测天线返回的信号进行下变频,将下变频生成的中频信号送入校准信号处理单元,对校准接收机输出的中频校准测试信号进行采样和数字正交解调,根据得到的同相分量和正交分量采样值,计算得到被测信号的幅度值和信噪比SNR,将信噪比SNR与其中预先设定的判决门限SNRth进行比较,判断所述信噪比SNR是否大于判决门限SNRth,是,则计算测试信号相对参考信号的幅相值数据;否则,返回重新进行第k种状态的幅相测试;直到完成所需的N种状态的幅相测试得到幅相测试数据;然后根据得到的幅相测试数据进行馈电幅相分布计算,应用校准结果评估,比较得到的各通道幅相误差与加权的收敛判据,判断是否满足收敛要求,是则判定校准成功并将幅相补偿码固化,输出校准结果,否则,生成新幅相补偿码,重新启动校准测试,其中,k=1,2,…N,N为天线的通道数。
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