[发明专利]消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法有效

专利信息
申请号: 201710406063.0 申请日: 2017-06-01
公开(公告)号: CN107329125B 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 董杰;杜艳;梁宇宏;李洁 申请(专利权)人: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01S7/02
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 51121 代理人: 郭纯武
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 消除 突发 干扰 信号 闭环 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法,其特征在于包括以下步骤:构建包括综合控制分机、相控阵天线阵面和校准测试设备的有源相控阵天线校准系统,通过综合控制分机通信接口向相控阵天线阵面和校准测试设备,发送包括校准频点和发射/接收校准状态的自闭环校准命令和校准状态序号k的校准测试命令,天线阵面和校准测试设备根据自闭环校准命令设置自身的校准状态,天线阵面波控器根据校准状态序号k配置天线各通道移相状态,校准测试设备通过发射端口输出校准发射机产生的校准测试信号,校准测试信号经被测天线波束形成网络后返回校准测试设备的校准接收机;校准接收机对被测天线返回的信号进行下变频,将下变频生成的中频信号送入校准信号处理单元,对校准接收机输出的中频校准测试信号进行采样和数字正交解调,根据得到的同相分量和正交分量采样值,计算得到被测信号的幅度值和信噪比SNR,将信噪比SNR与其中预先设定的判决门限SNRth进行比较,判断所述信噪比SNR是否大于判决门限SNRth,是,则计算测试信号相对参考信号的幅相值数据;否则,返回重新进行第k种状态的幅相测试;直到完成所需的N种状态的幅相测试得到幅相测试数据;然后校准信号处理单元根据幅相值数据进行馈电幅相分布计算,得到天线阵面未扫描时各通道的初始状态馈电幅相分布特性,校准测试设备将得到的天线阵未扫描时各通道的初始状态馈电幅相分布特性进行归一化后与天线设计的幅相分布标准值比较,将得到的各通道幅相误差逐个与加权的收敛判据比较,判断是否满足收敛要求,是则判定校准成功并进行幅相补偿码固化,输出校准结果,结束校准,否则,生成新幅相补偿码,重新启动校准测试,其中,k=1,2,…N,N为天线的通道数。

2.如权利要求1所述的消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法,其特征在于:幅相值数据分别为测试信号相对参考信号的幅度变化量BAM(k)和相位变化量BPH(k),并保存在校准信号处理单元供其后续进行馈电幅相分布计算。

3.如权利要求1所述的消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法,其特征在于:校准信号处理单元将信噪比SNR与预设的判决门限SNRth进行比较:当信噪比SNR大于预设门限时,校准信号处理单元计算测试信号相对参考信号的幅相值数据, 幅相值数据包括测试信号相对参考信号的幅度变化量BAM(k)和相位变化量BPH(k),将校准序号加1后返回综合控制分机进行第k+1种状态的幅相测试;否则认为被测信号受到干扰,返回校准测试设备重新进行第k种状态的幅相测试。

4.如权利要求1所述的消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法,其特征在于:校准信号处理单元对测试数据进行馈电幅相分布计算,得到天线阵未扫描时各通道的初始状态馈电幅相分布数据,其中幅度分布数据为MAM(i),相位分布数据为MPH(i), i=1,2,…N表示天线阵面第i个通道,并在校准评估计算中,将馈电幅相分布数据归一化后与天线设计的幅相分布标准值比较得到各通道的幅度误差EAM(i)和相位误差EPH(i),将所述幅度误差逐个与幅度收敛判据ΔAM(i)比较,将相位误差逐个与相位收敛判据ΔPH(i)比较,当全部收敛时,通过综合控制分机发送参数写入命令通知相控阵天线阵面的波控器将幅相补偿码固化,否则通过综合控制分机将幅相分布数据发送给相控阵天线阵面的波控器生产新幅相补偿码,并返回综合控制分机,从校准状态序号k=1开始重新校准测试。

5.如权利要求1所述的消除短时突发干扰信号的自闭环校准方法,其特征在于:校准测试设备校准发射机发出的校准测试信号S(t)为脉冲宽度为τ的ASK调制信号,在脉冲有效时间τ范围内校准测试信号为恒包络正弦波信号,且校准测试设备校准接收机接收到的校准信号R(t)=Sa(t)+n(t)+J(t),其中,Sa(t)为校准测试信号S(t)经相控阵天线阵面波束形成网络合成后的响应信号,n(t)为噪声,J(t)为干扰信号。

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