[发明专利]锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法有效
| 申请号： | 201710393440.1 | 申请日： | 2017-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN106994023B | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 李翰威;齐宏亮;骆毅斌;吴书裕;詹欣智;黄文记 | 申请（专利权）人： | 广州华端科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510530 广东省广州市广州高新技术产业*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法，包括分别在CBCT系统探测器未偏置状态以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态，获取CBCT系统探测器未偏置状态下的第一投影数据，以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态下的第二投影数据；在第一投影数据中获取投影数据集A，计算投影数据集A的中心点坐标，在第二投影数据中获取投影数据集B，计算投影数据集B的中心点坐标；根据投影数据集A的中心点坐标、投影数据集B的中心点坐标、以及投影数据集A以及投影数据集B的之间的对应关系确定估计坐标以及目标函数；计算目标函数取到最小值时的估计坐标，得到优化估计值，根据优化估计值确定CBCT系统在该次采样过程中的几何参数。 | ||
| 搜索关键词： | 锥形 计算机 断层 成像 系统 几何 参数 确定 方法 | ||
【主权项】：
一种锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法，其特征在于，包括如下步骤：分别在CBCT系统探测器未偏置状态以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态，对CBCT几何参数校正装置中的小球标记物进行扫描，获取CBCT系统探测器未偏置状态下的第一投影数据，以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态下的第二投影数据；在第一投影数据中采样得到投影数据集A，计算投影数据集A的中心点坐标，在第二投影数据中采样得到投影数据集B，计算投影数据集B的中心点坐标；根据所述投影数据集A的中心点坐标、投影数据集B的中心点坐标、以及所述投影数据集A以及投影数据集B的之间的对应关系确定CBCT几何参数校正装置中各个小球标记物球心投影的估计坐标以及CBCT几何参数校正装置的目标函数；计算所述目标函数取到最小值时的估计坐标，得到优化估计值，根据所述优化估计值确定CBCT系统在采样过程中的几何参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州华端科技有限公司，未经广州华端科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710393440.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
