[发明专利]锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法有效
申请号: | 201710393440.1 | 申请日: | 2017-05-27 |
公开(公告)号: | CN106994023B | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 李翰威;齐宏亮;骆毅斌;吴书裕;詹欣智;黄文记 | 申请(专利权)人: | 广州华端科技有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 周清华 |
地址: | 510530 广东省广州市广州高新技术产业*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 锥形 计算机 断层 成像 系统 几何 参数 确定 方法 | ||
1.一种锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法,其特征在于,包括如下步骤:
分别在CBCT系统探测器未偏置状态以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态,对CBCT几何参数校正装置中的小球标记物进行扫描,获取CBCT系统探测器未偏置状态下的第一投影数据,以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态下的第二投影数据;
在第一投影数据中采样得到投影数据集A,计算投影数据集A的中心点坐标,在第二投影数据中采样得到投影数据集B,计算投影数据集B的中心点坐标;
根据所述投影数据集A的中心点坐标、投影数据集B的中心点坐标、以及所述投影数据集A以及投影数据集B的之间的对应关系确定CBCT几何参数校正装置中各个小球标记物球心投影的估计坐标以及CBCT几何参数校正装置的目标函数;
计算所述目标函数取到最小值时的估计坐标,得到优化估计值,根据所述优化估计值确定CBCT系统在采样过程中的几何参数。
2.根据权利要求1所述的锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法,其特征在于,
对CBCT几何参数校正装置中的小球标记物进行圆周扫描,在扫描过程中,采样获取CBCT系统探测器未偏置状态下的第一投影数据,以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态下的第二投影数据;
所述在第二投影数据中采样得到投影数据集B,计算投影数据集B的中心点坐标的过程包括:
在第二投影数据中获取第i次采样得到的投影数据集B,计算投影数据集B的中心点坐标MB(um,vm);其中,um表示投影数据集B中第一坐标参数,vm表示投影数据集B中第二坐标参数,m≤N,m为第二投影数据中第i次采样所包括小球标记物像的个数,N为CBCT几何参数校正装置中的小球标记物总数;
所述计算所述目标函数取到最小值时的估计坐标,得到优化估计值,根据所述优化估计值确定CBCT系统在采样过程中的几何参数的过程包括:
计算所述目标函数取到最小值时的Est(u'n,v'n),得到优化估计值,根据所述优化估计值确定CBCT系统第i次采样过程中的几何参数;其中,Est(u′n,v′n)为各个小球标记物球心投影的估计坐标,u′n表示第n个金属小球对应的估计坐标的行坐标,v′n表示第n个金属小球对应的估计坐标的列坐标,n=1,2,…,N,N为CBCT几何参数校正装置中的小球标记物总数。
3.根据权利要求1所述的锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法,其特征在于,所述分别在CBCT系统探测器未偏置状态以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态,对CBCT几何参数校正装置中的小球标记物进行扫描,获取CBCT系统探测器未偏置状态下的第一投影数据,以及CBCT系统探测器水平移动至设定偏置状态下的第二投影数据的过程之前,还包括:
将CBCT几何参数校正装置的圆柱轴线和CBCT系统的旋转轴重合,在所述CBCT系统中设置CBCT几何参数校正装置。
4.根据权利要求1所述的锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法,其特征在于,所述CBCT几何参数校正装置包括空心圆柱以及小球标记物;所述空心圆柱的外表面上设计沿着中心轴方向螺旋轨迹的小孔,小球标记物镶嵌在小孔内,小球数量大于或等于6个。
5.根据权利要求4所述的锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法,其特征在于,所述空心圆柱的制作材料包括低密度物质;所述小球标记物的制作材料包括高密度物质。
6.根据权利要求5所述的锥形束计算机断层成像系统的几何参数确定方法,其特征在于,所述空心圆柱的制作材料为有机玻璃,所述小球标记物的制作材料为钢。
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