[发明专利]基于磁荧光复合粒子的微流控芯片有效
申请号: | 201710367235.8 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN106994370B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 刘春秀;蔡浩原;高然;李彤 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | B01L3/00 | 分类号: | B01L3/00;G01N21/64;G01N33/543 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于磁荧光复合粒子的微流控芯片,其包括:从下至上依次设置的芯片底层板、芯片沟道层、芯片上层盖板,其中,芯片沟道层包括依次相连的进样区、进样沟道、光学检测区、废液沟道和废液储存区;捕获识别试剂固定于所述光学检测区的下侧,标记识别试剂‑磁荧光复合粒子预固定于所述进样区、进样沟道或者光学检测区的内上侧。本发明还提供了一种光学检测装置。本发明通过磁富集分离反应和荧光光学检测技术进行样品微量物质分析,满足了微量样品中低浓度物质的快速、灵敏、便捷检测需求,解决了现有检测方法的仪器设备复杂昂贵,不够便捷,检测速度慢等问题,在POCT检测领域具有良好的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 基于 荧光 复合 粒子 微流控 芯片 | ||
【主权项】:
1.一种基于磁荧光复合粒子的微流控芯片,其包括:从下至上依次设置的芯片底层板、芯片沟道层、芯片上层盖板,其中,芯片沟道层包括依次相连的进样区、进样沟道、光学检测区、废液沟道和废液储存区;捕获识别试剂固定于所述光学检测区的下侧,标记识别试剂‑磁荧光复合粒子预固定于所述进样区、进样沟道或者光学检测区的内上侧;所述芯片底层板的入射区域和/或反射区域具有特定角度的至少一个凹槽。
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