[发明专利]基于磁荧光复合粒子的微流控芯片

权利要求书

1.一种基于磁荧光复合粒子的微流控芯片，其包括：从下至上依次设置的芯片底层板、芯片沟道层、芯片上层盖板，其中，

芯片沟道层包括依次相连的进样区、进样沟道、光学检测区、废液沟道和废液储存区；

捕获识别试剂固定于所述光学检测区的下侧，标记识别试剂-磁荧光复合粒子预固定于所述进样区、进样沟道或者光学检测区的内上侧；

所述芯片底层板的入射区域和/或反射区域具有特定角度的至少一个凹槽。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片，其中，入射光在凹槽的入射角度大于40度，从而在所述光学检测区实现全反射。

3.根据权利要求1所述的微流控芯片，其中，所述入射区域为芯片底层板的底面或侧面。

4.根据权利要求1所述的微流控芯片，其中，所述磁荧光复合粒子为磁粒子外包被荧光纳米粒子或者磁粒子直接包被荧光材料的复合粒子。

5.根据权利要求4所述的微流控芯片，其中，所述荧光纳米粒子为多孔纳米粒子中结合镶嵌荧光分子材料，所述荧光材料为无机荧光材料或者有机荧光材料或者荧光量子点。

6.根据权利要求4或5所述的微流控芯片，其中，所述磁粒子的粒径为50～2000nm。

7.根据权利要求1所述的微流控芯片，其中，所述进样沟道和/或废液沟道为弯道形式。

8.根据权利要求1或7所述的微流控芯片，其中，所述废液沟道贴附有渐进性可溶性膜，通过调节膜的长度和溶解度以实现反应时间的控制。

9.一种光学检测装置，其包括：

权利要求1-8任一项所述的基于磁荧光复合粒子的微流控芯片；

检测器件，置于芯片沟道层的光学检测区的上侧或者下侧；

电磁模块，置于芯片沟道层的光学检测区的上下两侧。