[发明专利]一种CMOS反相器跨导系数的测量装置和方法

摘要

本发明提出了一种CMOS反相器跨导系数的测量装置和方法，用于解决现有技术中存在的不能直接测量CMOS反相器的跨导系数的技术问题。第二直流电源为待测CMOS反相器电源端施加直流电压；闭合第一开关和第三开关，同时断开第二开关；第一直流电源为待测CMOS反相器输入端施加直流电压；通过测量NMOS处于导通且PMOS处于截止状态下的负载电阻的电流和电压，计算NMOS的跨导系数Kn；断开第一开关和第三开关，同时闭合第二开关；通过测量PMOS处于导通且NMOS处于截止状态下的负载电阻的电流和电压，计算PMOS的跨导系数Kp。本发明测量效率高，可操作性强。可用于集成电路设计和仿真中跨导系数的提取和分析。

主权项

一种CMOS反相器跨导系数的测量装置，其特征在于，包括第一直流电源、第二直流电源、负载电阻、电压表、电流表、第一开关、第二开关和第三开关；所述第一直流电源的正极通过第一开关与待测CMOS反相器输入端连接，负极通过第二开关后分为两路，一路依次通过电流表和负载电阻与待测CMOS反相器的输出端连接，另一路与第三开关连接；所述第二直流电源的正极与待测CMOS反相器的电源端及第三开关连接，负极接地；所述电压表与负载电阻并联；其中：第一直流电源，用于提供待测CMOS反相器的输入电压；第二直流电源，用于提供待测CMOS反相器的电源电压。