[发明专利]一种因变形而报废的内花键产品的返工返修方法

摘要

本发明公开了一种因变形而报废的内花键产品的返工返修方法，包括以下步骤：第1步、用分选花键塞规对报废的内花键产品进行筛选和分组，第2步、将分好组的报废的内花键产品，用渐开线花键推刀推削，并用产品花键塞规进行检测，第3步、变形小的推削成为合格品；其余推削后不满足图纸要求，但满足装配要求的可降级、让步接收；以上两种方式都不能实现的则仍报废。其有益效果是：采用此处理方法的处理结果很理想，约42.8％的产品能满足图纸要求，28.5％通过了让步接收，挽回大量的经济损失。该推刀的设计具有推广价值，可用于批量生产中渐开线内花键热处理变形废品的定期处理；推刀与分选塞规结合的方法在批量质量问题中也值得借鉴。

主权项

1.一种因变形而报废的内花键产品的返工返修方法，其特征在于：包括以下步骤：第1步、用分选花键塞规对报废的内花键产品进行筛选和分组，分选花键塞规的参数为：模数、齿数、压力角和分度圆直径均与内花键产品的参数相同，分选花键塞规有3个规格，分别为1号塞规、2号塞规和3号塞规，1号塞规的齿厚等于配对花键轴的外花键作用齿厚的最大值，或者等于配对花键轴的棒间距对应齿厚的最大值；2号塞规的齿厚比1号塞规的齿厚小0.01mm；3号塞规的齿厚比2号塞规的齿厚小0.01mm，且3号塞规的齿厚大于配对花键轴的棒间距对应的齿厚的最小值；渐开线内花键棒间距的计算方法：偶数齿棒间距：M1＝Dx‑dp；奇数齿棒间距：Dx＝df×cosαf/cosαx；invαx＝π/Z‑(p‑B)/df+invαf‑dp/d0；渐开线外花键棒间距的计算方法：偶数齿棒间距：M3＝Dx+dp；奇数齿棒间距：Dx＝df×cosαf/cosαx；invαx＝Sf/df+invαf+dp/d0‑π/Z；式中：Dx‑量棒中心到齿轮中心间距离的二倍；m‑模数；Z‑齿数；αf‑分度圆压力角；αx‑量棒中心压力角；df‑分度圆直径；d0‑基圆直径；p‑齿距；B‑内花键齿槽宽；Sf‑外花键齿厚；dp‑量棒直径；第2步、将分好组的报废的内花键产品，用渐开线花键推刀推削，并用产品花键塞规进行检测，产品花键塞规有2个规格，分为T规和Z规，T规的齿厚为产品图中作用齿槽宽最小值，Z规的齿厚为产品图中实际齿槽宽最大值；渐开线花键推刀的切削参数：模数、齿数、压力角和分度圆直径均与内花键产品的参数相同，花键推刀因齿厚不同有3个规格，分为1号推刀、2号推刀和3号推刀；3号推刀的齿厚为：作用齿槽宽最小值+0.04至0.05mm；2号推刀的齿厚较3号推刀大0.02mm；1号推刀较2号推刀大0.02mm，花键推刀前部设有便于位置对正的花键前导轨，前导轨花键齿厚小于3号推刀齿厚0.01‑0.02mm；渐开线花键推刀切削齿和校准齿的容屑槽参数：前角为0°、切削齿数为6个、校准齿数为6个、齿距为10mm、轴向齿宽为6mm；1号分选塞规通过的报废的内花键产品依次用3号推刀、2号推刀、1号推刀进行推削，3号推刀推削后用产品花键塞规检测，不合格就换2号推刀继续推削，2号推刀推削后再用产品花键塞规检测，不合格就换1号推刀继续推削；2号分选塞规通过的报废的内花键产品依次用2号推刀、1号推刀进行推削，每次推削后用产品花键塞规检测；3号分选塞规通过的报废的内花键产品1号推刀进行推削，推削后用产品花键塞规检测；第3步、变形较小的不合格的内花键产品用推刀推削，经过产品花键塞规检测合格后满足图纸要求成为合格品；其余无法实现推削或推后仍不合格的工件中有一部分不满足图纸要求，但满足装配要求，可与用户沟通实现产品降级、让步接收，这部分工件可用1号分选塞规进行挑选；以上两种方式都不能实现的仍报废。