[发明专利]一种确定永磁体削角的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710339517.7 申请日: 2017-05-15
公开(公告)号: CN107134865B 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 黄信;黄开胜 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: H02K1/06 分类号: H02K1/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 510062 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种确定永磁体削角的方法及装置,通过坐标系的转换将永磁体映射到二维坐标系下,然后在二维坐标系下确定第一采样点和第二采样点的数量和采样间隔,最后利用二维电磁场有限元分析方法计算第一采样点和第二采样点的全部组合所对应的齿槽转矩。在齿槽转矩中,筛选出最小的齿槽转矩幅值作为目标齿槽转矩,将目标齿槽转矩对应的第一采样点和第二采样点所在的直线确定为削角轨迹。由此可见,本发明能够定量的分析不同的削角轨迹对齿槽转矩和谐波畸变率的影响,从而能够找到较佳的削角轨迹以指导实际切割,完成对永磁体的削角。另外,通过对永磁体进行削角不仅能够带来上述优点,而且能够节省永磁体材料,降低成本。
搜索关键词: 一种 确定 永磁体 方法 装置
【主权项】:
1.一种确定永磁体削角的方法,其特征在于,包括:在三维坐标空间下将电机所用的永磁体映射到二维坐标系下以得到在x轴方向和y轴方向上的取值范围以确定所述永磁体的削角范围;按照所述削角范围在所述永磁铁的相邻两个边界上分别取第一采样点和第二采样点,其中,所述第一采样点的数量至少为一个,所述第二采样点的数量至少为一个,且所述第一采样点的数量和所述第二采样点的数量不同时为一个;利用二维电磁场有限元分析方法计算所述第一采样点和所述第二采样点的全部组合所对应的齿槽转矩;在所述齿槽转矩中,筛选出最小的齿槽转矩幅值作为目标齿槽转矩,将所述目标齿槽转矩对应的第一采样点和第二采样点所在的直线确定为削角轨迹。
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