[发明专利]一种确定永磁体削角的方法及装置有效
| 申请号： | 201710339517.7 | 申请日： | 2017-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN107134865B | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 黄信;黄开胜 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | H02K1/06 | 分类号： | H02K1/06 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 510062 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 确定 永磁体 方法 装置 | ||
1.一种确定永磁体削角的方法，其特征在于，包括：
在三维坐标空间下将电机所用的永磁体映射到二维坐标系下以得到在x轴方向和y轴方向上的取值范围以确定所述永磁体的削角范围；
按照所述削角范围在所述永磁铁的相邻两个边界上分别取第一采样点和第二采样点，其中，所述第一采样点的数量至少为一个，所述第二采样点的数量至少为一个，且所述第一采样点的数量和所述第二采样点的数量不同时为一个；
利用二维电磁场有限元分析方法计算所述第一采样点和所述第二采样点的全部组合所对应的齿槽转矩；
在所述齿槽转矩中，筛选出最小的齿槽转矩幅值作为目标齿槽转矩，将所述目标齿槽转矩对应的第一采样点和第二采样点所在的直线确定为削角轨迹。
2.根据权利要求1所述的确定永磁体削角的方法，其特征在于，各所述第一采样点间的采样间隔相同，各所述第二采样点间的采样间隔相同。
3.根据权利要求1所述的确定永磁体削角的方法，其特征在于，各所述第一采样点间的采样间隔与各所述第二采样点间的采样间隔相同。
4.根据权利要求3所述的确定永磁体削角的方法，其特征在于，所述第一采样点间的采样间隔与所述第二采样点间的采样间隔均为1mm。
5.根据权利要求1至4任意一项所述的确定永磁体削角的方法，其特征在于，实现所述二维电磁场有限元分析方法具体通过Maxwell 2D。
6.一种确定永磁体削角的装置，其特征在于，包括：
映射单元，用于在三维坐标空间下将电机所用的永磁体映射到二维坐标系下以得到在x轴方向和y轴方向上的取值范围以确定所述永磁体的削角范围；
采样单元，用于按照所述削角范围在所述永磁铁的相邻两个边界上分别取第一采样点和第二采样点，其中，所述第一采样点的数量至少为一个，所述第二采样点的数量至少为一个，且所述第一采样点的数量和所述第二采样点的数量不同时为一个；
计算单元，用于利用二维电磁场有限元分析方法计算所述第一采样点和所述第二采样点的全部组合所对应的齿槽转矩；
确定单元，用于在所述齿槽转矩中，筛选出最小的齿槽转矩幅值作为目标齿槽转矩，将所述目标齿槽转矩对应的第一采样点和第二采样点所在的直线确定为削角轨迹。
7.根据权利要求6所述的确定永磁体削角的装置，其特征在于，所述采样单元的各所述第一采样点间的采样间隔相同，各所述第二采样点间的采样间隔相同。
8.根据权利要求6所述的确定永磁体削角的装置，其特征在于，所述采样单元的各所述第一采样点间的采样间隔与各所述第二采样点间的采样间隔相同。
9.根据权利要求8所述的确定永磁体削角的装置，其特征在于，所述采样单元的所述第一采样点间的采样间隔与所述第二采样点间的采样间隔均为1mm。
10.根据权利要求6至9任意一项所述的确定永磁体削角的装置，其特征在于，所述计算单元实现所述二维电磁场有限元分析方法具体通过Maxwell2D。
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