[发明专利]一种γ谱假峰甄别方法、存储介质和系统有效
| 申请号： | 201710326200.X | 申请日： | 2017-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN107167833B | 公开（公告）日： | 2019-03-05 |
| 发明（设计）人： | 赵超;何林锋;韩刚;唐方东 | 申请（专利权）人： | 上海市计量测试技术研究院 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G06F17/15 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 施浩 |
| 地址： | 201203 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种γ谱假峰甄别方法、存储介质和系统，能够有效识别出γ能谱测量仪的能谱中假峰。其技术方案为：输入γ能谱测量仪的测量能谱，测量能谱是以道址为自变量、计数值为变量的有限数据序列；利用高斯函数二阶导数进行卷积核函数的离散化计算；根据卷积核函数对测量能谱进行卷积计算的离散化处理；在卷积计算完成后获取一个以道址为自变量、卷积值为变量的有限数据序列，挑选出该有限数据序列中的卷积值极小值对应的道址；计算极小值位置的特征值；根据特征值甄别真假峰。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 假峰 甄别 方法 存储 介质 系统 | ||
【主权项】：
1.一种γ谱假峰甄别方法，其特征在于，包括：步骤1：输入γ能谱测量仪的测量能谱，测量能谱是以道址为自变量、计数值为变量的有限数据序列；步骤2：对高斯函数二阶导数形式的卷积核函数进行离散化计算；步骤3：根据卷积核函数对测量能谱进行卷积计算的离散化处理；步骤4：在卷积计算完成后获取一个以道址为自变量、卷积值为变量的有限数据序列，挑选出该有限数据序列中的卷积值极小值对应的道址；步骤5：计算卷积值极小值位置的特征值；步骤6：根据特征值甄别真假峰。
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