[发明专利]一种γ谱假峰甄别方法、存储介质和系统

权利要求书

1.一种γ谱假峰甄别方法，其特征在于，包括：

步骤1：输入γ能谱测量仪的测量能谱，测量能谱是以道址为自变量、计数值为变量的有限数据序列；

步骤2：对高斯函数二阶导数形式的卷积核函数进行离散化计算；

步骤3：根据卷积核函数对测量能谱进行卷积计算的离散化处理；

步骤4：在卷积计算完成后获取一个以道址为自变量、卷积值为变量的有限数据序列，挑选出该有限数据序列中的卷积值极小值对应的道址；

步骤5：计算卷积值极小值位置的特征值；

步骤6：根据特征值甄别真假峰。

2.根据权利要求1所述的γ谱假峰甄别方法，其特征在于，在步骤1和步骤2之间还包括能谱前处理的步骤，包括扣除本底与能谱平滑化。

3.根据权利要求1所述的γ谱假峰甄别方法，其特征在于，在步骤2中的高斯函数二阶导数为：

其中σ为高斯分布的标准差，z表示卷积计算中两道址之差。

4.根据权利要求3所述的γ谱假峰甄别方法，其特征在于，步骤5中的特征值F为：

其中σ为高斯分布的标准差，p为光电峰峰位，S为光电峰面积，Con(p)为识别峰位处卷积值。

5.根据权利要求1所述的γ谱假峰甄别方法，其特征在于，步骤6中的根据特征值甄别真假峰的方法包括阈值法、聚类分析法、多因素判别法。

6.一种甄别γ谱假峰的存储介质，其特征在于，存储介质上存储了计算机程序，所述计算机程序用于实现以下步骤：

步骤1：输入γ能谱测量仪的测量能谱，测量能谱是以道址为自变量、计数值为变量的有限数据序列；

步骤2：能谱前处理；

步骤3：对高斯函数二阶导数形式的卷积核函数进行离散化计算；

步骤4：根据卷积核函数对测量能谱进行卷积计算的离散化处理；

步骤5：在卷积计算完成后获取一个以道址为自变量、卷积值为变量的有限数据序列，挑选出该有限数据序列中的卷积值极小值对应的道址；

步骤6：计算卷积值极小值位置的特征值；

步骤7：根据特征值甄别真假峰。

7.一种甄别γ谱假峰的系统，其特征在于，包括处理器、存储器，存储器中存储一计算机程序，计算机程序在处理器中以计算机指令运行，实现以下的步骤：

步骤1：输入γ能谱测量仪的测量能谱，测量能谱是以道址为自变量、计数值为变量的有限数据序列；

步骤2：能谱前处理；

步骤3：对高斯函数二阶导数形式的卷积核函数进行离散化计算；

步骤4：根据卷积核函数对测量能谱进行卷积计算的离散化处理；

步骤5：在卷积计算完成后获取一个以道址为自变量、卷积值为变量的有限数据序列，挑选出该有限数据序列中的卷积值极小值对应的道址；

步骤6：计算卷积值极小值位置的特征值；

步骤7：根据特征值甄别真假峰。

8.一种甄别γ谱假峰的系统，其特征在于，包括：

输入模块，输入γ能谱测量仪的测量能谱，测量能谱是以道址为自变量、计数值为变量的有限数据序列；

能谱前处理模块，扣除本底与能谱平滑化；

卷积核函数离散化计算模块，对高斯函数二阶导数形式的卷积核函数进行离散化计算；

离散化有限卷积模块，根据卷积核函数对测量能谱进行卷积计算的离散化处理；

卷积值序列极小值挑选模块，在卷积计算完成后获取一个以道址为自变量、卷积值为变量的有限数据序列，挑选出该有限数据序列中的卷积值极小值对应的道址；

特征值计算模块，计算卷积值极小值位置的特征值；

甄别模块，根据特征值甄别真假峰。