[发明专利]适用于反熔丝型可编程逻辑门阵列的可测性设计电路在审
| 申请号： | 201710301292.6 | 申请日： | 2017-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN107134994A | 公开（公告）日： | 2017-09-05 |
| 发明（设计）人： | 曹靓;封晴;隽扬;马金龙;王栋 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | H03K19/177 | 分类号： | H03K19/177;G01R31/3185;G01R31/28 |
| 代理公司： | 总装工程兵科研一所专利服务中心32002 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种适用于反熔丝型可编程逻辑门阵列的可测性设计结构，属于微电子技术领域。该可测性设计结构包含控制电路以及至少一个开关通路，每个开关通路包括并联设置的反熔丝和测试开关管，所述测试开关管受所述控制电路控制打开或关闭，所述测试开关管打开后，所述反熔丝被短路，所述测试开关管被关闭后，所述反熔丝使能。本发明通过将反熔丝并联一个测试开关管，可以使控制电路可以选择性地控制开关通路中的测试开关管的打开，从而保证在测试阶段，将需要测试线路所对应的反熔丝短路，在使用阶段，关闭测试开关管，将反熔丝使能，关闭的测试开关管不会影响信号传输，也不会引入额外功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 反熔丝型 可编程 逻辑 门阵列 可测性 设计 电路 | ||
【主权项】：
一种适用于反熔丝型可编程逻辑门阵列的可测性设计电路，其特征在于，所述可测性设计电路包括控制电路以及至少一个开关通路，每个开关通路包括并联设置的反熔丝和测试开关管，所述测试开关管受所述控制电路控制打开或关闭，所述测试开关管打开后，所述反熔丝被短路，所述测试开关管被关闭后，所述反熔丝使能。
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