[发明专利]电子密度信息获取方法、装置及设备在审
申请号: | 201710236166.7 | 申请日: | 2017-04-12 |
公开(公告)号: | CN107019496A | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 于文义;孟晓林 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司11444 | 代理人: | 王刚,龚敏 |
地址: | 201807 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种电子密度信息获取方法、装置及设备。本发明实施例通过响应于指定物质的电子密度获取请求,采集指定物质的计算机断层扫描中第一能量值对应的第一扫描数据和第二能量值对应的第二扫描数据;根据第一扫描数据和第二扫描数据,获取指定物质对应的物质相关参数的参数值,物质相关参数为求解电子密度的指定等式中的参数;基于指定物质对应的物质相关参数的参数值,确定指定物质的电子密度,对于与物质相关的参数,不再对所有物质统一取固定的数值,而是根据具体物质的不同取不同的数值,从而使得参数的设置更加合理,进而提高了密度测定结果的准确度,因此,解决了现有技术中被扫描组织的电子密度的测定结果准确度较低的问题。 | ||
搜索关键词: | 电子密度 信息 获取 方法 装置 设备 | ||
【主权项】:
一种电子密度信息获取方法,其特征在于,所述方法包括:响应于指定物质的电子密度获取请求,采集所述指定物质的计算机断层扫描中第一能量值对应的第一扫描数据和第二能量值对应的第二扫描数据,所述第二能量值大于所述第一能量值;根据所述第一扫描数据和所述第二扫描数据,获取所述指定物质对应的物质相关参数的参数值,所述物质相关参数为求解电子密度的指定等式中的参数;基于所述指定物质对应的物质相关参数的参数值,确定所述指定物质的电子密度。
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