[发明专利]电子密度信息获取方法、装置及设备

权利要求书

1.一种电子密度信息获取方法，其特征在于，所述方法包括：

响应于指定物质的电子密度获取请求，采集所述指定物质的计算机断层扫描中第一能量值对应的第一扫描数据和第二能量值对应的第二扫描数据，所述第二能量值大于所述第一能量值；

根据所述第一扫描数据和所述第二扫描数据，获取所述指定物质对应的物质相关参数的参数值，所述物质相关参数为求解电子密度的指定等式中的参数；

基于所述指定物质对应的物质相关参数的参数值，确定所述指定物质的电子密度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述物质相关参数包括有效原子序数和康普顿效应衰减系数值比值，根据所述第一扫描数据和所述第二扫描数据，获取所述指定物质对应的物质相关参数的参数值，包括：

根据所述第一扫描数据获得第一光谱线性衰减系数值，根据所述第二扫描数据获得第二光谱线性衰减系数值；

根据第一光谱线性衰减系数值、第二光谱线性衰减系数值，以及所述第一能量值和所述第二能量值对应的光谱线性衰减系数值比值与有效原子序数的对应关系，获得所述指定物质对应的有效原子序数；

根据所述指定物质的有效原子序数，以及所述第一能量值和所述第二能量值对应的康普顿效应衰减系数值比值与有效原子序数的对应关系，获得所述指定物质对应的康普顿效应衰减系数值比值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据第一光谱线性衰减系数值、第二光谱线性衰减系数值，以及所述第一能量值和所述第二能量值对应的光谱线性衰减系数值比值与有效原子序数的对应关系，获得所述指定物质对应的有效原子序数之前，所述方法还包括：

根据指定数量的第一已知原子的原子序数，以及所述第一已知原子在所述第一能量值下的光谱线性衰减系数值与在所述第二能量值下的光谱线性衰减系数值的比值，获得所述第一能量值和所述第二能量值对应的光谱线性衰减系数值比值与有效原子序数的对应关系。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据第一光谱线性衰减系数值、第二光谱线性衰减系数值，以及所述第一能量值和所述第二能量值对应的光谱线性衰减系数值比值与有效原子序数的对应关系，获得所述指定物质对应的有效原子序数之前，所述方法还包括：

根据指定数量的第二已知原子的原子序数，以及所述第二已知原子在所述第一能量值下的康普顿效应衰减系数值与在所述第二能量值下的康普顿效应衰减系数值的比值，获得所述第一能量值和所述第二能量值对应的康普顿效应衰减系数比值与有效原子序数的对应关系。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指定等式中还包括物质无关参数，所述物质无关参数包括光电效应衰减系数中的指定参数，所述方法还包括：

利用指定的已知物质信息，校正所述指定参数的参数值；

基于所述指定物质对应的物质相关参数的参数值，确定所述指定物质的电子密度，包括：

基于所述指定物质对应的物质相关参数的参数值和校正后的所述指定参数的参数值，确定所述指定物质的电子密度。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指定等式为根据所述第一能量值对应的第一光谱线性衰减系数等式和所述第二能量值对应的第二光谱线性衰减系数等式联立求解得到的电子密度计算等式。

7.一种电子密度信息获取装置，其特征在于，所述装置包括：

采集模块，用于响应于指定物质的电子密度获取请求，采集所述指定物质的计算机断层扫描中第一能量值对应的第一扫描数据和第二能量值对应的第二扫描数据，所述第二能量值大于所述第一能量值；

获取模块，用于根据所述第一扫描数据和所述第二扫描数据，获取所述指定物质对应的物质相关参数的参数值，所述物质相关参数为求解电子密度的指定等式中的参数；

确定模块，用于基于所述指定物质对应的物质相关参数的参数值，确定所述指定物质的电子密度。