[发明专利]基于微透镜阵列的荧光样本层析显微成像方法在审
| 申请号： | 201710210092.X | 申请日： | 2017-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN107091825A | 公开（公告）日： | 2017-08-25 |
| 发明（设计）人： | 戴琼海;何继军;吴嘉敏 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种基于微透镜阵列的荧光样本层析显微成像方法，包括图像采集和三维反卷积重构两部分。图像采集部分由荧光显微镜，透镜组合，微透镜阵列和成像传感器组成，微透镜阵列位于透镜组合后的像面上，将像面上不同角度光线调制到微透镜后对应像感器不同像素点；三维反卷积重构部分，利用获取的图像，结合系统点扩展函数，通过多次正向投影和反向投影，重构荧光样本焦平面图像。本发明的优势在于适用荧光样本范围广，成像速度快，计算重建后，样本不同深度图像能够消除非焦面模糊影响。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 透镜 阵列 荧光 样本 层析 显微 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种基于微透镜阵列的层析显微成像方法，其特征在于，包括以下步骤：通过显微镜的相机引出口将显微样本放大到第一像平面，其中，所述显微镜为宽视场荧光显微镜；第一组合透镜根据所述第一像平面生成满足后级要求的第二像平面；微透镜阵列对所述第二像平面进行光学调制，将第二像平面上不同角度光线调制到微透镜后不同空间位置；第二组合透镜将经过所述微透镜阵列调制的图像互不重叠且无空隙地送到成像传感器；成像传感器记录经前级调制后的荧光样本图像。
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