[发明专利]基于微透镜阵列的荧光样本层析显微成像方法

权利要求书

1.一种基于微透镜阵列的层析显微成像方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过显微镜的相机引出口将显微样本放大到第一像平面，其中，所述显微镜为宽视场荧光显微镜；

第一组合透镜根据所述第一像平面生成满足后级要求的第二像平面；

微透镜阵列对所述第二像平面进行光学调制，将第二像平面上不同角度光线调制到微透镜后不同空间位置；

第二组合透镜将经过所述微透镜阵列调制的图像互不重叠且无空隙地送到成像传感器；

成像传感器记录经前级调制后的荧光样本图像。

2.根据权利要求1所述的基于微透镜阵列的荧光样本层析方法，其特征在于，所述通过显微镜的相机引出口将显微样本放大到第一像平面，包括：

通过对荧光显微样本在z轴上的移动或物镜的移动，实现对荧光样本不同深度成像。

3.根据权利要求1所述的基于微透镜阵列的荧光样本层析方法，其特征在于，其中，对显微镜输出的荧光图像，以衍射极限分辨率通过微透镜阵列或其他强度或相位调制。

4.根据权利要求1所述的基于微透镜阵列的荧光样本层析方法，其特征在于，还包括：通过解卷积重建手段消除非焦面信号影响。

5.一种基于微透镜阵列的层析显微成像系统，其特征在于，包括：

显微镜，所述显微镜为宽视场荧光显微镜，通过所述显微镜的相机引出口将显微样本放大到第一像平面；

第一组合透镜，用于根据所述像平面生成满足后级要求的第二像平面；

微透镜阵列，用于对所述第二像平面进行光学调制，将第二像平面上不同角度光线调制到微透镜后不同空间位置；

第二组合透镜，用于将经过微透镜阵列调制的图像互不重叠且无空隙地送到成像传感器；

成像传感器，用于记录经前级调制后的荧光样本图像。

6.根据权利要求5所述的基于微透镜阵列的荧光样本层析系统，其特征在于，其中，通过对荧光显微样本在z轴上的移动或物镜的移动，实现对荧光样本不同深度成像。

7.根据权利要求5所述的基于微透镜阵列的荧光样本层析系统，其特征在于，其中，对显微镜输出的荧光图像，以衍射极限分辨率通过微透镜阵列或其他强度或相位调制。

8.根据权利要求5所述的基于微透镜阵列的荧光样本层析系统，其特征在于，其中，通过解卷积重建手段消除非焦面信号影响。