[发明专利]APD的调试方法有效
| 申请号： | 201710120542.6 | 申请日： | 2017-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN106841970B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 梁鹏;李佳东 | 申请（专利权）人： | 成都优博创通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 泰和泰律师事务所 51219 | 代理人： | 曾祥坤;杨栩 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种APD的调试方法，包括如下步骤：①无光条件下在APD上加反向电压Vapd；②APD产生的暗电流(Idark)通过电流镜(2)镜向后流入跨阻放大器(3)；③通过跨阻放大器(3)的输出电压(Vo)反算出APD的暗电流(Idark)；④判断APD的暗电流(Idark)是否等于10μA，若是则此时的Vapd即为APD的击穿电压，若否则重新设置Vapd，返回步骤③；⑤测试APD在击穿电压下的灵敏度是否满足要求。本发明能够精确找到APD的Vbr，从而找到合理的反向工作电压Vapd，精确、高效、一致性好，能提升光模块生产良率，提高生产效率，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | apd 调试 方法 | ||
【主权项】：
一种计算APD击穿电压的方法，其特征在于，包括如下步骤：①无光条件下在APD上加反向电压Vapd；②APD产生的暗电流（Idark）通过电流镜（2）镜像后流入跨阻放大器（3）；③通过跨阻放大器（3）的输出电压（Vo）反算出APD的暗电流（Idark）；④判断APD的暗电流（Idark）是否等于10μA，若是则此时的反向电压（Vapd）即为APD的击穿电压，若否则重新设置反向电压（Vapd），返回步骤③。
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