[发明专利]APD的调试方法

说明书

本发明提供一种APD的调试方法，包括如下步骤：①无光条件下在APD上加反向电压Vapd；②APD产生的暗电流(Idark)通过电流镜(2)镜向后流入跨阻放大器(3)；③通过跨阻放大器(3)的输出电压(Vo)反算出APD的暗电流(Idark)；④判断APD的暗电流(Idark)是否等于10μA，若是则此时的Vapd即为APD的击穿电压，若否则重新设置Vapd，返回步骤③；⑤测试APD在击穿电压下的灵敏度是否满足要求。本发明能够精确找到APD的Vbr，从而找到合理的反向工作电压Vapd，精确、高效、一致性好，能提升光模块生产良率，提高生产效率，降低生产成本。

技术领域

本发明涉及一种APD(雪崩光电二极管)，具体涉及一种APD的调试方法。

背景技术

在使用APD作接收端的光模块生产过程中，正确的设置APD工作点才能保证光模块收端灵敏度、过载以满足行业内指标要求。合理的APD反向工作电压Vapd通常与APD的击穿电压Vbr紧密相连(通常Vapd＝Vbr-X)，所以找到APD的Vbr对设置APD的工作电压至关重要。

在现有调试光模块方法中，通常根据测试模块最佳灵敏度来反向调整Vapd，但最佳灵敏度点的Vapd通常是一个范围(如图1所示)，且每个APD的灵敏度存在差异，这样无法保证模块Vapd电压的一致性。同时若某些APD灵敏度较差，不满足要求，生产时却需要花很多时间去调试选择，生产效率低下。所以需要另一种精确、高效、一致性好的调试方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种精确、高效、一致性好的APD的调试方法。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

本发明提供一种APD的调试方法，其特征在于，包括如下步骤：①无光条件下在APD上加反向电压Vapd；②APD产生的暗电流Idark通过电流镜镜像后流入跨阻放大器；③通过跨阻放大器的输出电压Vo反算出APD的暗电流Idark；④判断APD的暗电流Idark是否等于10μA，若是则此时的反向电压Vapd即为APD的击穿电压，若否则重新设置反向电压Vapd，返回步骤③；⑤测试APD在击穿电压下的灵敏度是否满足要求。其中，通过输出电压V0反算出APD暗电流时，在本发明实施例中是通过ADC模块转化后自动计算的，在其它实施例中也可以不经ADC模块转换直接由模拟电路计算。

优选的，步骤①中APD上的反向电压起始值为厂家提供的APD典型值，即以厂家提供的APD典型值Vapd0为起点去调整Vapd。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明通过APD在高压设置下产生一个未知暗电流，该暗电流经过电流镜、跨阻放大器、ADC后被计算出该暗电流的具体值，通过判断该暗电流是否满足APD击穿时的定义：

Idark＝10μA来确认是否准确找到APD的击穿电压。找到合理的工作电压是通过计算判断暗电流是否达到10μA来完成的，省去了不停测试灵敏度所耗费的时间，之后只需要测试一次灵敏度即可完成测试；当APD不合格时，也只需要找到当暗电流Idark等于10μA时对应的Vapd，之后测试一次该Vapd下的灵敏度，若不满足要求，则说明此APD不符合要求。由此可见本发明能够精确找到APD的Vbr，从而找到合理的反向工作电压Vapd，精确、高效、一致性好，能提升光模块生产良率，生产效率，降低生产成本。

附图说明

图1是APD灵敏度与电压关系图；

图2是计算APD击穿电压方法硬件框图。

具体实施方式