[发明专利]一种基于视觉的多深度二维平面尺寸测量方法在审

专利信息
申请号: 201710118332.3 申请日: 2017-03-01
公开(公告)号: CN106871785A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 张宇飞;王伟旭;杨川;李冉 申请(专利权)人: 成都天衡电科科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 代理人: 徐丰
地址: 610213 四川省成都市双流县西南航空*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种基于视觉的多深度二维平面尺寸测量方法,其特征在于,先对相机内参进行标定,获得平面参数,根据针孔摄像机模型的透视投影关系,激光测距仪或移位传感器测量相机到被测物体的距离,并发送给视觉系统调整后拍照,通过图像处理,计算获得被测物尺寸。通过上述方式,本系统可以不使用相对昂贵的2D激光传感器而是采用视觉实现“动态标定”。系统根据被测物体到相机的不同距离,实现从平面到实际空间坐标的映射,完成尺寸的测量。
搜索关键词: 一种 基于 视觉 深度 二维 平面 尺寸 测量方法
【主权项】:
一种基于视觉的多深度二维平面尺寸测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:首先使用标定板对相机内参进行标定,并在与被测面平行的平面获得一组外参(R,T),其中R为旋转矩阵参数,T为位移矩阵参数;步骤2:当距离为Zc的被测面进入检测区后,激光测距仪或位移传感器可较精确的获得这个距离Zc,并将其发送给视觉系统,视觉系统调整焦距后对物体进行拍照;步骤3:视觉系统收到这个距离后便可在没有标定板的情况下对被测面进行“再标定”:将Zc导入刚体转移矩阵H,重新计算获得H’,并由此得到像平面坐标系IPCS与世界坐标系WCS两坐标系间的关系;步骤4:进行图像处理,测量图像坐标系中待测区的相关二维尺寸信息,再将像素信息映射到世界坐标系中可得到真实的二位尺寸信息,完成测量并重复步骤2,总不能被下一物体的测量。
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