[发明专利]一种基于视觉的多深度二维平面尺寸测量方法在审

专利信息
申请号: 201710118332.3 申请日: 2017-03-01
公开(公告)号: CN106871785A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 张宇飞;王伟旭;杨川;李冉 申请(专利权)人: 成都天衡电科科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 代理人: 徐丰
地址: 610213 四川省成都市双流县西南航空*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 视觉 深度 二维 平面 尺寸 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于视觉的多深度二维平面尺寸测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:首先使用标定板对相机内参进行标定,并在与被测面平行的平面获得一组外参(R,T),其中R为旋转矩阵参数,T为位移矩阵参数;

步骤2:当距离为Zc的被测面进入检测区后,激光测距仪或位移传感器可较精确的获得这个距离Zc,并将其发送给视觉系统,视觉系统调整焦距后对物体进行拍照;

步骤3:视觉系统收到这个距离后便可在没有标定板的情况下对被测面进行“再标定”:将Zc导入刚体转移矩阵H,重新计算获得H’,并由此得到像平面坐标系IPCS与世界坐标系WCS两坐标系间的关系;

步骤4:进行图像处理,测量图像坐标系中待测区的相关二维尺寸信息,再将像素信息映射到世界坐标系中可得到真实的二位尺寸信息,完成测量并重复步骤2,总不能被下一物体的测量。

2.根据权利要求1所述的一种基于视觉的多深度二维平面尺寸测量方法,其特征在于:所述刚体转移矩阵H用于描述相机相对于世界坐标系的位置,具体通过如下公式:

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