[发明专利]半导体结构的制造方法有效

专利信息
申请号: 201710116295.2 申请日: 2015-04-23
公开(公告)号: CN107039481B 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 何彦仕;张恕铭;蔡永泰;刘沧宇 申请(专利权)人: 精材科技股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 刘新宇<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 中国台湾桃园市中*** 国省代码: 中国台湾;TW
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摘要: 一种半导体结构的制造方法,包含下列步骤:使用暂时粘着层将载板贴附于晶圆的第一表面上;将晶圆的第二表面贴附于框体上的紫外光胶带,并移除暂时粘着层与载板;贴附保护胶带于晶圆的第一表面上,其中保护胶带的面积大于晶圆的面积;使得保护胶带凸出于晶圆。照射紫外光于紫外光胶带,使紫外光胶带的粘性消失;贴附切割胶带于保护胶带与框体上,并移除紫外光胶带;使用第一刀具从晶圆的第二表面切割晶圆,而形成多个晶片与晶片间的多个间隙;以及使用宽度小于第一刀具的第二刀具沿间隙切割保护胶带,使得切割后的保护胶带分别凸出于晶片。本发明可提升半导体结构的良率以及制造上的便利性,且可节省在晶片上设置玻璃片的成本。
搜索关键词: 半导体 结构 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体结构的制造方法,其特征在于,包含:/na)使用暂时粘着层将载板贴附于晶圆的第一表面上,使该暂时粘着层覆盖该晶圆的影像感测区;/nb)蚀刻该晶圆,使得该晶圆形成多个晶片与该多个晶片间的多个间隙;/nc)形成布线层、绝缘层与球栅阵列于该晶圆相对该第一表面的第二表面上;/nd)将该晶圆的该第二表面贴附于框体上的紫外光胶带,并移除该载板,其中该暂时粘着层的面积大于该晶圆的面积,使得该暂时粘着层凸出于该晶圆;/ne)使用刀具切割该暂时粘着层对齐该多个间隙的位置,使得切割后的多个暂时粘着层分别凸出于该多个晶片,其中该刀具的宽度小于每一该多个间隙的宽度;以及/nf)照射紫外光于该紫外光胶带,使该紫外光胶带的粘性消失。/n
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