[发明专利]用于功率半导体开关中的短路检测的方法和器件有效
| 申请号： | 201710111978.9 | 申请日： | 2017-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN107132466B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | M-M.巴克兰;S.海因;A.毛德 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/27;G01R31/52;G01R31/56 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 申屠伟进;杜荔南 |
| 地址： | 德国瑙伊比*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于功率半导体开关中的短路检测的方法和器件。提供了检测与半导体开关有关的短路情况的器件和方法。当开关的控制信号超出第一参考并且开关的负载电流的改变超出第二参考时，可以确定短路情况。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 功率 半导体 开关 中的 短路 检测 方法 器件 | ||
【主权项】：
一种器件，包括：半导体开关，包括控制端子和至少两个负载端子；以及评估电路，被配置成基于控制端子处的信号的量值并且至少部分地基于经由所述至少两个负载端子的负载电流的变化的量值来检测短路情况。
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