[发明专利]触针以及测定方法有效
| 申请号： | 201710110957.5 | 申请日： | 2017-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN107167104B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 久保雅裕;鹰巢良史 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 刘文海 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供触针以及测定方法。触针具备轴部(7)、在轴部的前端配置的单晶金刚石的突出部(2)、以及在突出部的前端配置的单晶金刚石的球状部(1)，在球状部的最前端部配置有{100}面(4)，突出部在比球状部靠轴部侧的环状的区域(30)内分布有{111}面(5)以及{110}面(6)，并且{111}面(5)以及{110}面(6)在环状的区域内突出。 | ||
| 搜索关键词： | 以及 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种触针，其中，/n所述触针具备：/n轴部；/n在所述轴部的前端配置的单晶金刚石的突出部；以及/n在所述突出部的前端配置的单晶金刚石的球状部，/n在所述球状部的最前端部配置有单晶金刚石的{100}面，/n所述突出部在比所述球状部靠近所述轴部侧的环状的区域内分布有单晶金刚石的{111}面以及单晶金刚石的{110}面，并且所述{110}面以及所述{111}面在所述环状的区域内突出。/n
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