[发明专利]一种输入离散量上电BIT测试电路在审
| 申请号： | 201710096297.X | 申请日： | 2017-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN106950443A | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 张亚军;张雯丽;郭宏选 | 申请（专利权）人： | 庆安集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 710077*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种输入离散量上电BIT测试电路，属于电子测控专业技术。BIT测试作为系统测试和故障诊断与隔离的新技术，是一种重要的系统故障测试方法。本发明的输入离散量上电BIT测试电路，包括依次连接的光耦隔离模块、电平转换模块、FPGA和电子开关，所述FPGA可控制所述电子开关向所述光耦隔离模块发送“高端”离散信号或“低端”离散信号，并通过所述电平转换模块发送至FPGA，并在FPGA中判断信号是否正常，若正常则电路正常，若异常则电路故障。具有可靠性高、稳定性好、设计成本低的优势，可广泛应用于使用于有输入离散量上电BIT的控制系统中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 输入 离散 量上电 bit 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种输入离散量上电BIT测试电路，其特征在于：包括依次连接的光耦隔离模块、电平转换模块、FPGA和电子开关，所述FPGA可控制所述电子开关向所述光耦隔离模块发送“高端”离散信号或“低端”离散信号，并通过所述电平转换模块发送至FPGA，并在FPGA中判断信号是否正常，若正常则电路正常，若异常则电路故障。
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