[发明专利]软磁铁氧体材料晶粒尺寸测量的预处理方法及测量方法在审

专利信息
申请号: 201710090422.6 申请日: 2017-02-20
公开(公告)号: CN106872317A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 左新浪;刘子莲;蔡颖颖;马丽利 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N1/28;G01N1/32
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 万志香
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种软磁铁氧体材料晶粒尺寸测量的预处理方法及测量方法。预处理方法主要包括以下步骤将盐酸与硝酸混合并搅拌均匀,得蚀刻液;将蚀刻液置于蚀刻容器中并加热;将软磁铁氧体材料试样的待蚀刻面向上并放入蚀刻液中蒸煮;取出并用水冲洗;以及对蚀刻试样的表面进行干燥,得蚀刻试样。通过对磨抛后的软磁铁氧体表面进行蚀刻,可以使软磁铁氧体材料抛光断面上的晶界清晰,能够读准与直线相交的晶粒边界数目;采用包括该预处理方法的测量方法对软磁铁氧体材料的晶粒尺寸进行测量,可以使测量结果接近真实值,同时避免了为得出真实值而配置成本极高的扫描电子显微镜。
搜索关键词: 磁铁 材料 晶粒 尺寸 测量 预处理 方法 测量方法
【主权项】:
一种软磁铁氧体材料晶粒尺寸测量的预处理方法,其特征在于,包括以下步骤:配制蚀刻液,将盐酸与硝酸混合并搅拌均匀,得所述蚀刻液;将所述蚀刻液置于蚀刻容器中并加热;将软磁铁氧体材料试样的待蚀刻面向上并放入所述蚀刻液中蒸煮;蚀刻后取出并用水冲洗;以及进行表面干燥,得蚀刻试样。
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