[发明专利]FPGA调试系统及方法在审
| 申请号： | 201710081184.2 | 申请日： | 2017-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN106951587A | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 袁丰磊;卢笙;顾沧海;侯树海;王俊;陈安 | 申请（专利权）人： | 芯启源（南京）半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所31219 | 代理人： | 高彦 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明所提供的FPGA调试系统及方法，通过将FPGA写入的调试信号信息读取至容量较大且接口带宽亦足够的片外存储单元加以存储，在保持调试信号数量足够的前提下，将调试信号观测时间的大幅提升，由此就可以避免现有调试方式不可避免的反复挑选调试信号和反复尝试触发时机的问题，也就避免了为了调试需要反复进行非常耗时的FPGA实现流程，大大提高FPGA的调试效率。并且能够解决现有调试技术无法诊断大时间跨度异常的难题。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 调试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种FPGA调试系统，其特征在于，FPGA芯片在调试时写入调试信号信息；所述FPGA调试系统包括：片外存储单元，用于接收并存储从所述FPGA芯片读取的所述调试信号信息；其中，所述片外存储单元的存储容量大于所述FPGA芯片，且其接口带宽不小于所述FPGA芯片中调试信号的总带宽。
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