[发明专利]一种针对西数硬盘译码表损坏的修复方法

摘要

本发明公开了一种针对西数硬盘31号模块损坏的修复方法，包括以下步骤：S1：找31号模块头部特征；S2：找31号模块长度；S3：区分坏扇区位置并记录；S4：区分有效数据体和非有效数据体；S5：确定坏扇区位置，若存在于有效数据体当中，则结束；反之对非有效数据体裁剪；S6：计算有效数据所占扇区数；S7：填入31号模块长度；S8：对有效数据体校验，重新填入31号模块校验位；S9：断电、起电，正常访问并提取数据。本发明的有益效果如下：通过屏蔽对模块校验产生影响的坏扇区，在硬盘初始化的时候，就不会对模块的坏扇区进行加载和访问，成功初始化硬盘访问硬盘内的数据。

主权项

1.一种针对西数硬盘31号模块损坏的修复方法，其特征在于包括以下步骤：/nS1：获取通过UBA方式找到31号模块头部特征；/nS2：头部向后偏移6个字节找31号模块长度；/nS3：根据31号模块长度遍历整个31号模块，区分坏扇区位置并记录；/nS4：以31号模块头部特征为起始位向后检索“0x0000FFFF”，这段数据体记为有效数据体，“0x0000FFFF”向后至31号模块尾部为非有效数据体；/nS5：确定31号模块中所有坏扇区位置，如果坏扇区位置存在于有效数据体当中，则结束；如果坏扇区位置存在非有效数据体当中，则对非有效数据体进行裁剪，执行S6；/nS6：将有效数据体进行字节数统计；执行公式：字节数/512＝有效数据所占扇区数，对有效数据所占扇区数取整；/nS7：将有效数据所占扇区数转换成16进制，填入译码表31号模块头部对应的模块长度记录位置；/nS8：对S7改变后的有效数据体进行校验，并将得到的4字节校验重新填入31号模块对应的校验位；/nS9：断电、起电，硬盘就可以正常访问并提取数据。/n