[发明专利]一种针对西数硬盘译码表损坏的修复方法

说明书

本发明公开了一种针对西数硬盘31号模块损坏的修复方法，包括以下步骤：S1：找31号模块头部特征；S2：找31号模块长度；S3：区分坏扇区位置并记录；S4：区分有效数据体和非有效数据体；S5：确定坏扇区位置，若存在于有效数据体当中，则结束；反之对非有效数据体裁剪；S6：计算有效数据所占扇区数；S7：填入31号模块长度；S8：对有效数据体校验，重新填入31号模块校验位；S9：断电、起电，正常访问并提取数据。本发明的有益效果如下：通过屏蔽对模块校验产生影响的坏扇区，在硬盘初始化的时候，就不会对模块的坏扇区进行加载和访问，成功初始化硬盘访问硬盘内的数据。

技术领域

本发明涉及信息安全技术领域，特别涉及一种针对西数硬盘31号模块损坏的修复方法。

背景技术

在数据恢复的领域，经常会遇到缺陷的存储介质；重要的数据对于用户来说，往往都是无价的。西数硬盘固件区坏道，导致了重要模块出现了损坏。

模块头部的校验值，和模块产生坏道之后的数据校验值发生了改变，导致了模块校验值不匹配的情况。这样的情况出现，就导致了硬盘无法认盘，或者硬盘认盘但是无法访问数据区的问题出现。

目前出现这种固件区坏道的处理办法，一般都是采用固件区偏移的方法来处理。但是如果固件区的所有磁道都存在同纬度的规律坏道，并且重要模块的长度又很长。固件偏移方法就无法处理。

发明内容

本发明针对现有技术的缺陷，提供了一种针对西数硬盘31号模块损坏的修复方法，能有效的解决上述现有技术存在的问题。

一种针对西数硬盘31号模块损坏的修复方法，包括以下步骤：

S1：获取通过UBA方式找到31号模块头部特征；

S2：头部向后偏移6个字节找31号模块长度；

S3：根据31号模块长度遍历整个31号模块，区分坏扇区位置并记录；

S4：以31号模块头部特征为起始位向后检索“0x0000FFFF”，这段数据体记为有效数据体，“0x0000FFFF”向后至31号模块尾部为非有效数据体；

S5：确定31号模块中所有坏扇区位置，如果坏扇区位置存在于有效数据体当中，则结束；如果坏扇区位置存在非有效数据体当中，则对非有效数据体进行裁剪，执行S6；

S6：将有效数据体进行字节数统计；执行公式：字节数/512＝有效数据所占扇区数，对有效数据所占扇区数取整；

S7：将有效数据所占扇区数转换成16进制，填入译码表31号模块头部对应的模块长度记录位置；

S8：对S7改变后的有效数据体进行校验，并将得到的4字节校验重新填入31号模块对应的校验位；

S9：断电、起电，硬盘就可以正常访问并提取数据。

与现有技术相比本发明的优点在于：通过屏蔽对模块校验产生影响的坏扇区，在硬盘初始化的时候，就不会对模块的坏扇区进行加载和访问，成功初始化硬盘访问硬盘内的数据。

附图说明

图1为本发明实施例31号模块的数据结构图。

具体实施方式

为使本发明的目的：技术方案及优点更加清楚明白，以下举实施例，对本发明做进一步详细说明。

如图1所示，一种针对西数硬盘31号模块损坏的修复方法，包括以下步骤：

S1：获取通过UBA方式找到31号模块头部特征“0x524F594C”；

S2：头部向后偏移6个字节的两个字节为记录31号模块长度“0x0C7”；