[发明专利]光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置在审
| 申请号： | 201710063087.0 | 申请日： | 2017-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN106841968A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 石强;李兆成 | 申请（专利权）人： | 深圳市量为科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/265 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值；获取作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比；计算辐照前后的电流传输比变化量；对数据进行预处理，以噪声幅值作为信息参数，以电流传输比变化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，预测单个光电耦合器件的抗辐照性能，对同批其他光电耦合器器件进行筛选。本发明能够实现在对光电耦合器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 耦合器 辐照 能力 无损 筛选 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，包括：获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值；获取所述作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比；基于辐照前的光电耦合器的电流传输比和经过辐照后的光电耦合器的电流传输比，计算辐照前后的电流传输比变化量；对数据进行预处理，以所述噪声幅值作为信息参数，以所述电流传输比变化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个光电耦合器件的抗辐照性能，对同批其他光电耦合器器件进行筛选。
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