[发明专利]光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置

权利要求书

1.一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，包括：

获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值；

获取所述作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比；

基于辐照前的光电耦合器的电流传输比和经过辐照后的光电耦合器的电流传输比，计算辐照前后的电流传输比变化量；

对数据进行预处理，以所述噪声幅值作为信息参数，以所述电流传输比变化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；

基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；

利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个光电耦合器件的抗辐照性能，对同批其他光电耦合器器件进行筛选。

2.根据权利要求1所述的一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，所述获取随机子样光电耦合器的噪声电压功率谱幅值包括：

设置光电耦合器的偏置和负载条件；

在光电耦合器的输出端引出噪声信号；

对所述噪声信号进行低噪声的前置放大，得到前置放大信号；

采集所述前置放大信号，计算得到1/f噪声幅值。

3.根据权利要求1所述的一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，所述利用所述无损筛选回归预测方程，测试单个光电耦合器的抗辐照性能，对同批光电耦合器进行筛选，包括：

获取待筛选光电耦合器的1/f噪声幅值B；

基于所述1/f噪声幅值，利用所述回归预测方程，得到此光电耦合器的电流传输比变化量预测值；

将所述电流传输比变化量预测值和此批光电耦合器的电流传输比变化量容限进行比较，如果所述预测值在此类光电耦合器的电流传输比变化量容限之内，则认为此光电耦合器为合格产品；反之，如果所述预测值不在此类光电耦合器的电流传输比变化量容限之内，则认为此光电耦合器为不合格产品。

4.一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值；

第二获取单元，用于获取所述作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比；

计算单元，用于基于辐照前的光电耦合器的电流传输比和经过辐照后的光电耦合器的电流传输比，计算辐照前后的电流传输比变化量；

线性回归方程建立单元，用于对数据进行预处理，以所述噪声幅值作为信息参数，以所述电流传输比变化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；

无损筛选回归预测方程建立单元，基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；

测试单元，用于利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个光电耦合器件的抗辐照性能，对同批其他光电耦合器器件进行筛选。