[发明专利]电子装置测试系统及其方法在审
| 申请号： | 201710061228.5 | 申请日： | 2017-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN108345520A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 张倍铭;许世杰;张世杰;黄伟隆 | 申请（专利权）人： | 致伸科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 周滨;章侃铱 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子装置测试系统及其方法，其中电子装置测试系统，用以测试电子装置的功能，电子装置测试系统包括：测试计算机，用以执行电子装置测试程序；扫描装置，用以扫描电子装置的条码编号；以及光感测模块，用以检测电子装置与测试计算机的连接状态；其中，当光感测模块确认连接状态时，电子装置测试程序启动测试功能测试电子装置，并依据条码编号记录电子装置的测试结果，随后依据测试结果产生重测率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子装置测试系统 测试电子装置 电子装置测试 测试计算机 光感测模块 连接状态 条码 检测电子装置 编号记录 测试功能 程序启动 电子装置 扫描电子 扫描装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子装置测试系统，用以测试一电子装置的功能，该电子装置测试系统包括：一测试计算机，用以执行一电子装置测试程序；一扫描装置，用以扫描该电子装置的一条码编号；以及一光感测模块，用以检测该电子装置与该测试计算机的一连接状态；其中，当该光感测模块确认该连接状态时，该电子装置测试程序启动测试功能测试该电子装置，并依据该条码编号记录该电子装置的一测试结果，随后依据该测试结果产生一重测率。
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