[发明专利]电子装置测试系统及其方法

说明书

本发明提供一种电子装置测试系统及其方法，其中电子装置测试系统，用以测试电子装置的功能，电子装置测试系统包括：测试计算机，用以执行电子装置测试程序；扫描装置，用以扫描电子装置的条码编号；以及光感测模块，用以检测电子装置与测试计算机的连接状态；其中，当光感测模块确认连接状态时，电子装置测试程序启动测试功能测试电子装置，并依据条码编号记录电子装置的测试结果，随后依据测试结果产生重测率。

技术领域

本发明涉及一种电子装置测试应用领域，特别涉及一种具连接确认的电子装置测试系统及其方法。

背景技术

电子装置及其相关产品已成为人类社会中不可或缺的一部分，全世界每年会售出数以亿计的电子产品，当中包括：笔记本电脑、平板、个人数字助理、移动电话等。而随着大众消费力的增长及科技的进步，电子产品汰旧换新的速度也愈来愈快，因此而产生的电子废弃物也对地球环境造成莫大的伤害。

为降低电子废弃物的总量，于消费者端，可通过增加电子产品的功能性及多样性，以降低消费者汰换电子产品的速率；于生产端，则利用产线上的测试系统对电子装置的各功能进行测试，藉此提高电子装置生产的良率，同时延长电子装置的使用寿命。

于现有的测试系统中，在测试系统建立电子装置的条码编号后，测试系统会在一预设的时间内开启测试功能以对电子装置进行测试。但此时若电子装置并未与测试系统正确连接，容易造成测试系统的误判，使功能正常的电子装置被判定为瑕疵品，让功能正常的电子装置变成了电子废弃物而被丢弃。此外若为二次确认疑似瑕疵品的功能状态，除了提高测试系统对电子装置进行重新测试的频率，因此耗费了更多的能源及人力成本外，亦无法精确地掌控产线的运行效能。

有鉴于此，如何提供一种具连接确认的电子装置测试系统，并精确掌控产线的运行效能，为本发明欲解决的技术课题。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种具有连接确认的电子装置测试系统，其可避免待测电子装置未正确与测试计算机连接所产生的错误测试结果，并可利用测试结果计算并产生重测率及直通率，借此精确掌控各产线或测试站的运行效能。

为达前述的目的，本发明提供一种电子装置测试系统，用以测试电子装置的功能，电子装置测试系统包括：

测试计算机，用以执行电子装置测试程序；

扫描装置，用以扫描电子装置的条码编号；以及

光感测模块，用以检测电子装置与测试计算机的连接状态；

其中，当光感测模块确认连接状态时，电子装置测试程序启动测试功能测试电子装置，并依据条码编号记录电子装置的测试结果，随后依据测试结果产生重测率。

于上述优选实施方式中，其中电子装置测试系统进一步包括显示装置，显示装置用以显示电子装置测试程序的人机界面接口。

于上述优选实施方式中，其中光感测模块包括：光发射元件及光接收元件。

于上述优选实施方式中，其中光发射元件进一步包括遮罩，遮罩用于维持光发射元件发射光线的行进方向。

于上述优选实施方式中，其中光接收元件为光晶体管或光敏电阻。

于上述优选实施方式中，其中电子装置具有通用序列总线界面接口连接端。

于上述优选实施方式中，其中电子装置为：笔记本电脑、平板、个人数字助理、移动电话、手表、游戏机、鼠标、键盘、屏幕、印表机、事务机、扫描器或摄相机。

本发明另一优选作法，涉及一种电子装置测试方法，用以测试电子装置的功能，电子装置测试方法包括下列步骤：

(a).扫描电子装置的条码编号；