[发明专利]Massive-MIMO天线测量装置及其指向性测量方法有效
申请号: | 201710060810.X | 申请日: | 2017-01-25 |
公开(公告)号: | CN107024621B | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 河村尚志 | 申请(专利权)人: | 安立股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R29/08 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 李芳华 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供Massive‑MIMO天线测量装置及其指向性测量方法。波束方向检测构件(33)以被测天线(1)的电磁波辐射面(1a)朝向正对测量平面(P)的基准方向的状态使探针天线(12)进行大致扫描,根据其接收信号检测被测天线(1)辐射的波束的方向。天线方向变更构件(34)变更被测天线(1)的方向,以使检测的波束的方向朝向测量平面(P)中央。在该状态下,临时指向性计算构件(35)使探针天线(1)对测量平面整体进行精密扫描,根据其接收信号,求出被测天线(1)的临时指向性。指向性校正构件(36)被测对求出的临时指向性进行相当于被测天线(1)方向的角度的变更量的校正,求出被测天线(1)朝向基准方向时的远场指向性。 | ||
搜索关键词: | massive mimo 天线 测量 装置 及其 指向 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种Massive‑MIMO天线测量装置,其具备:被测天线支撑部(31),将Massive‑MIMO天线作为被测天线,支撑该被测天线;探针天线(12),用于接收由所述被测天线输出的电磁波;探针扫描机构(13),用于使所述探针天线在所述被测天线的近场区域的规定测量平面内移动;信号发生器(21),向所述被测天线供给测量用信号;振幅相位检测器(22),从所述探针天线的接收信号检测振幅和相位;以及测量控制部(32),控制所述探针扫描机构,使所述探针天线的位置在所述测量平面内进行扫描且接收所述振幅相位检测器的输出,而求出所述被测天线的远场指向性,所述Massive‑MIMO天线测量装置的特征在于,以将所述被测天线的电磁波辐射面正对所述测量平面的方向设为基准方向,能够从所述基准方向变更所述被测天线的方向的方式构成所述被测天线支撑部,所述Massive‑MIMO天线测量装置具备天线方向变更构件(34),所述天线方向变更构件控制所述被测天线支撑部来变更所述被测天线的方向,以使所述被测天线辐射的波束的方向朝向所述测量平面的中央。
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