[发明专利]Massive-MIMO天线测量装置及其指向性测量方法有效

专利信息
申请号: 201710060810.X 申请日: 2017-01-25
公开(公告)号: CN107024621B 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 河村尚志 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R29/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李芳华
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: massive mimo 天线 测量 装置 及其 指向 测量方法
【权利要求书】:

1.一种Massive-MIMO天线测量装置,其具备:

被测天线支撑部(31),将Massive-MIMO天线作为被测天线,支撑该被测天线;

探针天线(12),用于接收由所述被测天线输出的电磁波;

探针扫描机构(13),用于使所述探针天线在所述被测天线的近场区域的规定测量平面内移动;

信号发生器(21),向所述被测天线供给测量用信号;

振幅相位检测器(22),从所述探针天线的接收信号检测振幅和相位;以及

测量控制部(32),控制所述探针扫描机构,使所述探针天线的位置在所述测量平面内进行扫描且接收所述振幅相位检测器的输出,而求出所述被测天线的远场指向性,

所述Massive-MIMO天线测量装置的特征在于,

以将所述被测天线的电磁波辐射面正对所述测量平面的方向设为基准方向,能够从所述基准方向变更所述被测天线的方向的方式构成所述被测天线支撑部,

所述Massive-MIMO天线测量装置具备天线方向变更构件(34),所述天线方向变更构件控制所述被测天线支撑部来变更所述被测天线的方向,以使所述被测天线辐射的波束的方向朝向所述测量平面的中央。

2.根据权利要求1所述的Massive-MIMO天线测量装置,其特征在于,

所述测量控制部还具备波束方向检测构件(33)、临时指向性计算构件(35)以及指向性校正构件(36),

所述波束方向检测构件(33)在所述被测天线朝向所述基准方向的状态下,使所述探针天线以通过所述测量平面局部的方式进行扫描,由通过该扫描得到的振幅、相位的信息求出所述被测天线辐射的波束的方向,

所述天线方向变更构件(34)控制所述被测天线支撑部来变更所述被测天线的方向,以使通过所述波束方向检测构件检测的波束的方向朝向所述测量平面的中央,

所述临时指向性计算构件(35)在通过所述天线方向变更构件以波束方向朝向所述测量平面中央的方式变更所述被测天线方向的状态下,使所述探针天线在所述测量平面上进行扫描,求出所述被测天线的临时指向性,

所述指向性校正构件(36)对通过所述临时指向性计算构件得到的临时指向性进行相当于所述天线方向变更构件变更的角度量的校正,求出所述被测天线朝向所述基准方向时的指向性。

3.根据权利要求2所述的Massive-MIMO天线测量装置,其特征在于,

所述波束方向检测构件通过所述探针天线进行沿着所述测量平面内的正交轴的其中一个通过所述测量平面内的扫描以及沿所述正交轴的另一个通过所述平面内的扫描,求出所述被测天线辐射的波束的方向。

4.根据权利要求2或3所述的Massive-MIMO天线测量装置,其特征在于,

通过所述波束方向检测构件求出的波束方向的角度为指向性最大的极大值位置两侧的2个极小值位置的中间值。

5.根据权利要求2所述的Massive-MIMO天线测量装置,其特征在于,

判定通过所述天线方向变更构件(34)变更的所述被测天线辐射的波束方向是否在所述测量平面的中央附近,在中央附近的情况下,转入所述临时指向性计算构件,不在中央附近的情况下,再次转入所述天线方向变更构件。

6.根据权利要求2所述的Massive-MIMO天线测量装置,其特征在于,

通过所述波束方向检测构件求出的波束方向(θ、Φ)超出规定阈值的情况下,追加至少1次以通过超出其阈值的波束方向与所述测量平面交叉的坐标的方式进行的扫描。

7.根据权利要求2所述的Massive-MIMO天线测量装置,其特征在于,

所述波束方向检测构件能够预测通过从外部输入的波束方向控制信号朝向基准方向的被测天线(1)的波束方向的情况下,预先求出其预测的波束方向与测量平面交叉的坐标(X,Y)=(A,B),使所述探针天线在与X轴平行的Y=B的直线上对测量平面进行1次扫描,使所述探针天线Y轴平行的X=A的直线上对测量平面进行1次扫描,更准确地求出远场的波束方向。

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