[发明专利]电磁传感器及其校准有效
| 申请号： | 201710055553.0 | 申请日： | 2012-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN106772139B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 安东尼·约瑟夫·佩顿;尹武良;斯蒂芬·约翰·迪金森 | 申请（专利权）人： | 曼彻斯特大学 |
| 主分类号： | G01R33/028 | 分类号： | G01R33/028;G01R33/12;G01N33/20;G01N27/80;C21D8/12;C21D11/00 |
| 代理公司： | 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张瑞;郑霞 |
| 地址： | 英国曼*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 本申请涉及电磁传感器及其校准。本发明的实施方式提供了一种用于检测金属靶微观结构的电磁传感器(400)，包括：磁性装置，用于提供励磁磁场；磁力计(430)，用于检测在金属靶中引起的合成磁场；以及校准电路(450、551、552、553、554)，用于生成校准磁场来校准电磁传感器，其中校准参考磁场是由励磁磁场在校准电路引起的电流产生的。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁 传感器 及其 校准 | ||
【主权项】：
1.一种用于监测金属靶的微观结构的系统，包括：/n多个电磁传感器(420、430、440、450、551、552、553、554)，其用于输出磁场、检测合成磁场并响应于其来输出检测信号，其中由每个电磁传感器输出的励磁信号是多频波形；和/n控制单元(600)，其被布置为从所述多个电磁传感器(420、430、440、450、551、552、553、554)接收所述检测信号，以对于所述多个电磁传感器(420、430、440、450、551、552、553、554)中的每个电磁传感器确定在形成所述多频波形的多个频率中的每个频率处的所输出的磁场和所述合成磁场之间的相位改变，基于所述相位改变确定所述多个电磁传感器(420、430、440、450、551、552、553、554)处的金属靶的微观结构发展速率，并且确定所述微观结构发展速率自预定的微观结构发展速率的偏离。/n
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