[发明专利]芯片自动测试方法及系统有效
| 申请号： | 201710052105.5 | 申请日： | 2017-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN106771982B | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 钟汝军;刘元才;陈乐欢 | 申请（专利权）人： | 珠海全志科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 44224 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人： | 郑小粤;李双皓 |
| 地址： | 519080 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片自动测试方法及系统，所述方法包括实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；提取所述测试值；将所述测试值与期望值进行比较，并根据所述比较结果生成对比报告；根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点。本发明可以获取全部失效管脚的失效时间点，便于根据失效管脚的失效时间点，对失效位置和失效原因进行定位分析，还可以通过设置不同的期望值等，对测试值进行全面的分析，给出更加详细更加准确的测试结果，保证测试成功率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自动 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种芯片自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；/n测试结束后提取所述测试值；/n将所述测试值与期望值进行比较，并根据比较结果生成对比报告；所述对比报告包括被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值与期望值的对比结果；/n根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点；/n在测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值的步骤之前，所述方法还包括：/n获取配置文件；/n解析所述配置文件，获取测试文件和各测试承载板卡的初始化文件；/n在预设的初始化文件数据库中读取所述各测试承载板卡的初始化文件，并根据所述各测试承载板卡的初始化文件对所述各测试承载板卡进行初始化；/n根据所述各测试承载板卡的硬件类型分别解析所述测试文件，获取所述各测试承载板卡的测试安装文件；/n在所述初始化后的各测试承载板卡上安装所述各测试承载板卡的测试安装文件；/n通过所述安装了测试安装文件的各测试承载板卡对所述被测试芯片进行测试。/n
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