[发明专利]芯片自动测试方法及系统

权利要求书

1.一种芯片自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：

测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；

测试结束后提取所述测试值；

将所述测试值与期望值进行比较，并根据比较结果生成对比报告；所述对比报告包括被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值与期望值的对比结果；

根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点；

在测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值的步骤之前，所述方法还包括：

获取配置文件；

解析所述配置文件，获取测试文件和各测试承载板卡的初始化文件；

在预设的初始化文件数据库中读取所述各测试承载板卡的初始化文件，并根据所述各测试承载板卡的初始化文件对所述各测试承载板卡进行初始化；

根据所述各测试承载板卡的硬件类型分别解析所述测试文件，获取所述各测试承载板卡的测试安装文件；

在所述初始化后的各测试承载板卡上安装所述各测试承载板卡的测试安装文件；

通过所述安装了测试安装文件的各测试承载板卡对所述被测试芯片进行测试。

2.根据权利要求1所述的芯片自动测试方法，其特征在于，所述测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值，还包括：

测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各选定管脚的选定测试值。

3.根据权利要求1所述的芯片自动测试方法，其特征在于，在所述获取配置文件的步骤之后，在通过所述安装了测试安装文件的各测试承载板卡对所述被测试芯片进行测试的步骤之前，所述方法还包括：

获取被测试芯片的标识；

根据所述被测试芯片的标识和所述配置文件中的被测试芯片配置信息，通过预设的校验码生成算法，生成测试校验码；

将所述测试校验码和预设的核对校验码进行比对，当所述测试校验码和所述预设的核对校验码一致时，通过所述安装了测试安装文件的各测试承载板卡对所述被测试芯片进行测试。

4.根据权利要求1所述的芯片自动测试方法，其特征在于，所述测试文件，包括：

所述各被测试芯片预设测试时长内的输入输出向量值、各测试承载板卡的测试通道与所述被测试芯片的管脚之间的对应关系。

5.一种芯片自动测试系统，其特征在于，包括：

测试值实时记录模块，用于测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；

测试值提取模块，用于测试结束后提取所述测试值；

测试值比较模块，用于将所述测试值与期望值进行比较，并根据比较结果生成对比报告；所述对比报告包括被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值与期望值的对比结果；

失效管脚定位模块，用于根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点；

还包括：

配置文件获取模块，用于获取配置文件；

配置文件解析模块，用于解析所述配置文件，获取测试文件和各测试承载板卡的初始化文件；

测试承载板卡初始化模块，用于在预设的初始化文件数据库中读取所述各测试承载板卡的初始化文件，并根据所述各测试承载板卡的初始化文件对所述各测试承载板卡进行初始化；

测试文件解析模块，用于根据所述各测试承载板卡的硬件类型分别解析所述测试文件，获取所述各测试承载板卡的测试安装文件；

测试文件安装模块，用于在所述初始化后的各测试承载板卡上安装所述各测试承载板卡的测试安装文件；

芯片测试模块，用于通过所述安装了测试安装文件的各测试承载板卡对所述被测试芯片进行测试。

6.根据权利要求5所述的芯片自动测试系统，其特征在于：

所述测试值实时记录模块，还用于测试开始后实时记录被测试芯片在各测试时间点的各选定管脚的选定测试值。