[发明专利]一种显示屏缺陷评价方法及其系统在审
| 申请号： | 201710046012.1 | 申请日： | 2017-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN106782251A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 王智勇;舒畅 | 申请（专利权）人： | 合肥惠科金扬科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人： | 阳开亮 |
| 地址： | 230012 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明适用于终端领域，提供了一种显示屏缺陷评价方法及其终端。所述方法包括向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号，检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号，将所述亮度信号转换为亮度值并显示，根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。采用上述方法对显示屏缺陷进行评价时，避免使用高成本的设备，同时检测方法简单，避免了复杂的图像、数据处理过程，可广泛的应用于各种显示屏缺陷的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示屏 缺陷 评价 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种显示屏缺陷评价方法，其特征在于，所述方法包括：向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号；将所述亮度信号转换为亮度值并显示；根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。
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