[发明专利]一种显示屏缺陷评价方法及其系统

说明书

技术领域

本发明实施例属于终端领域，尤其涉及一种显示屏缺陷评价方法及其系统。

背景技术

平板显示器以其高分辨率、高亮度以及无几何变形等优点，同时由于其体积小、重量轻和功耗低，因而被广泛的应用在人们日常使用的消费电子产品中，例如电视、电脑、手机、平板等。但由于显示器的面积不断增大，制作过程复杂，因此，在制作过程中难免会出现一些缺陷，其中最常见的缺陷就是Mura缺陷。

“Mura”一词来源于日语，直译为斑点、脏污。在平板显示行业中，已将Mura作为一个专业术语来代表显示器的一种典型的不均匀显示缺陷。目前对于Mura的检测多采用的是彩色CCD的数位影像处理技术，但数位影像处理技术存在设备成本高、图像处理复杂等问题、目前集中在少数面板上游厂家。因此，针对目前整机厂家暗场mura检测评价方法的不足，提出一种Mura检测评价方法。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示屏缺陷评价方法，旨在解决现有的方法中，显示屏Mura缺陷评价方法使用的设备成本高，图像处理复杂，难以广泛推广的问题。

本发明实施例第一方面，提供了一种显示屏缺陷评价方法，所述方法包括：

向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；

检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号；

将所述亮度信号转换为亮度值并显示；

根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。

本发明实施例的第二方面，提供一种显示屏缺陷评价终端，所述终端包括：

光信号发射单元，用于向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；

检测单元，用于检测所述待评价显示屏在所述光信号下反馈的亮度信号；

转换单元，用于将所述亮度信号转换为亮度值并显示；

筛选评价单元，用于根据预设条件筛选出具有缺陷的亮度值，并根据所述筛选结果确定所述待评价显示屏的缺陷等级。

在本发明实施例中，通过向处于全黑场状态下的待评价显示屏发射检测光信号，并接收所述显示屏反馈的亮度信号，将多数亮度信号转换为亮值后，对所述亮度值进行筛选，根据筛选结果评价所述显示屏的缺陷。采用上述方法对显示屏缺陷进行评价时，避免使用高成本的设备，同时检测方法简单，避免了复杂的图像、数据处理过程，可广泛的应用于各种显示屏缺陷的检测。

附图说明

图1是本发明第一实施例提供的一种显示屏缺陷评价方法的流程图；

图2是色彩管理软件CA-S20w对所反馈的亮度值的显示图；

图3是本发明第一实施例提供的缺陷亮度值筛选条件设置方式的示意图；

图4是色彩管理软件CA-S20w对所反馈的亮度值筛选标记图；

图5是本发明第二实施例提供的一种显示屏缺陷评价终端的结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例中，通过接收处于全黑场状态的待显示屏反馈的亮度信号，进一步将上述亮度信号转化为亮度值，然后对亮度值进行筛选、标记，通过被标记区域的亮度值，计算出待评价显示屏的缺陷等级。

为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。

实施例一：

图1示出了本发明第一实施例提供的一种显示屏缺陷评价方法的流程图，详述如下：

步骤S11，向输入全黑场信号的待评价显示屏发射光信号；

目前，显示屏的应用越来越广泛，但显示屏的生产过程难免会出现一些缺陷，其中最常见的缺陷就是Mura缺陷。

在对显示屏Mura缺陷进行检测，并评出其缺陷等级时，首先将待检测待评价显示屏调整至标准工作状态，输入全黑场信号；所述全黑场信号指显示屏的亮度、对比度均为0的状态。

然后，在距离显示屏3倍高度处，调节镜头与屏幕中心正对，点亮状态下一段时间后，向处于全黑场状态的待评价显示屏发射测试光信号。优选地，采用CA-2000二维色彩分析仪对待评价显示屏进行测量；CA-2000二维色彩分析中包含具有XYZ滤波器的传感器，能够最大限度的滤除杂波的干扰，并且所述CA-2000二维色彩分析仪提供与CIE 1931等色函数近似的分光敏感度，能够实现与目视评价结果有很大关联度的辉度/色度的测量。